概述
SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。
。光學橢偏測量解決方案
。緊湊集成化設計，用戶操作體驗
。一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷
。豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力
產品特點
采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；
高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集；
數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；
產品應用
廣泛應用于科研/企業中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數等快速表征分析。
建議配件
| | | |
| 溫控臺 | 真空泵 | 透射吸附組件 |
