RayScan Smart-X射線斷層攝影測量系統

RayScanSmart是適用于各種無損檢測及尺寸測量應用的3維微處理計算機控制X射線斷層攝影測量系統

X射線源

射線光源電壓可達200kV

焦點直徑小至5μm

X射線探測器

RayScanSmart3D工業CT裝備了平板探測器、微焦點X射線源以及緊湊的機械結構，由于具備以上高效且高分辨率的基礎，就使其可對不同類型的物體進行分析

平板探測器像素數可達12MPix

像素間距小至50μm

進行單次掃描獲得的體積數據能夠對各種不同的評價內容提供支持，如材料內部的無損檢測，裝配位置及漏裝元器件檢測，坐標位置測量，實際結果與數模的比對等而其所產生的表面數據也能夠對逆向工程和3D打印提供支持