詳細描述
本產品采用口徑φ150mm考夫曼型離子源,通過結構的雙鉬柵離子光學系統及SHAG技術保證在φ100mm范圍內束流的均勻性為±5%,電子中和系統可使樣片上的電荷積累為零。
本設備的刻蝕工作臺可繞工作中心自轉,離子束入射角可在0~90°之間任意調整。
本設備具有刻蝕速率穩定、均勻性好、重復性好等特點,可廣泛應用于微電子、光電子、通訊等領域的器件研發和制造。
產品主要性能指標
型號 | IBE-150B |
真空系統 | 分子泵機組 |
刻蝕室數量 | 單刻蝕室 |
刻蝕室規格 | ?430×350×430mm |
工作臺尺寸 | ?150mm(片徑≤4英寸) |
離子束入射角 | 0~90°之間任意調整 |
刻蝕速率 | 100?~2000?/min(與刻蝕材料和工藝有關) |
刻蝕不均勻性 | ≤±5% |
Ar+離子能量范圍 | 100~1000eV,連續可調 |
離子束流密度 | 0~1mA/cm2,連續可調 |
有效離子束直徑 | ≥?100mm(屏柵極直徑?150mm) |
電子中和 | 帶有熱絲結構的電子中和裝置 |