膜厚測量橢偏儀
型號： Smart SE
廠家：HORIBA Jobin Yvon
產地：法國
技術指標：
光譜范圍：450-1000nm
· 多種微光斑自動選擇，精度〈1nm
· 光斑可視技術，可觀測任何樣品表面
· CCD探測器
· 自動樣品臺尺寸：200mmX200mm；XYZ方向
· 自動調節; Z軸高度>35mm
主要功能及應用范圍：測試各種透明薄膜膜厚。
南京盈波光電科技有限公司依托國內科研院所技術，致力于高品質的光電儀器研發，并提供以客戶為導向的光學儀器和解決方案。創始人劉教授入選南京321人才計劃。公司主營全元素快速檢測分析儀、光譜儀、激光器、光學機械，以及各類光電系統和軟件的訂制服務。在此基礎上還可以服務于基礎教學，訂制教學儀器系統。
