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廣電計量檢測集團股份有限公司
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捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/12/10 14:40:25
  • 訪問次數(shù)1135
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長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司(簡稱艾克賽普/Accexp)是一家長期服務(wù)于儀器儀表及測控集成的高科技企業(yè)。艾克賽普通過應(yīng)用的測試儀器平臺傳感器等技術(shù)及物聯(lián)網(wǎng)、云計算的整合,為客戶的測試需求提供針對行業(yè)應(yīng)用的完整解決方案。您我身邊世界的運轉(zhuǎn)都離不開科學,而沒有測試和儀器,便沒有科學。艾克賽普致力于提供更科學智能的測試軟硬件方案,是的儀器儀表公司。 我們擁有*地區(qū)(珠三角、長三角)多年工業(yè)科研測控集成經(jīng)驗,與眾多測試儀器品牌有長期合作,主要客戶有、國防科技大學、中南大學等科研單位和中車集團、中聯(lián)重科、湘潭電機等企業(yè),經(jīng)過數(shù)年的努力,公司目前已經(jīng)成為的測試儀器系統(tǒng)集成商和產(chǎn)品經(jīng)銷商、綜合服務(wù)商之一。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡有著精煉的外型,全新的視覺感受。為分析型電鏡全新設(shè)計的GUI,使操作更加直觀方便。JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗在設(shè)計上得到了充分的體現(xiàn),與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支...
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡有著精煉的外型,全新的視覺感受。為分析型電鏡全新設(shè)計的GUI,使操作更加直觀方便。JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗在設(shè)計上得到了充分的體現(xiàn),與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。 該設(shè)備采用新型四級聚光鏡照射光學系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system”,通過分別控制電子束強度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。
EM-F200可以實現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析,該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System” 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive(不用壓電驅(qū)動),能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網(wǎng)視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。插入和拔出樣品桿,對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在的位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍(選配),該槍的利用可以進行EELS化學結(jié)合狀態(tài)分析,高亮度的電子束縮短了分析時間,并且還降低了來自光源的色差,實現(xiàn)了高分辨率的觀察。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡是個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5,可以在裝置不運行時,以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設(shè)備具有排程功能,能在的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。



TEM點分辨率 0.19 nm 0.23 nm
STEM-HAADF 像 0.14 nm @冷場槍 0.16 nm @冷場槍
0.16 nm @熱場槍 0.19 nm @熱場槍
加速電壓 200 , 80 kV 200 , 80 kV
主要選配件 能譜儀(EDS)、電子能量損失譜儀(EELS)、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng)

捷歐路JEOL JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡視頻介紹  點擊下面鏈接可觀看視頻
.cn/場發(fā)射透射電鏡JEM-F200以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設(shè)計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

 


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