主要特點：

日立研發的全自動STEM球差校正器

高穩定、高亮度的冷場發射電子槍

TEM、STEM、SEM三位一體

大面積、大固體角的無窗能譜儀

全新設計的鏡筒和高壓系統

全新設計的保護罩和熒光屏相機

高穩定性側插樣品桿

兼容日立的特殊樣品桿和FIB系統

應用領域：

HF5000作為一款球差校正冷場發射透射電鏡，其分辨率達到了亞埃級，可以實現對樣品的超細微觀結構的觀察和分析，

適用于金屬、陶瓷、半導體、納米材料等的觀察。同時，HF5000的TEM、STEM、SEM三位一體功能不僅

可以實現對材料內部結構的研究，也可以獲得材料表面的信息。原子級分辨率的二次電子探測器可以彌補TEM和STEM

無法觀察樣品表面的缺陷，同時相比普通的SEM又具有更高的分辨率，可以滿足樣品表面高分辨形貌和結構觀察的需求，

與TEM和STEM形成互補。全自動化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度，提高了觀察效率，

尤其適合測試平臺和科研中心等用戶。