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SZ-100V2納米粒度儀

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  • 公司名稱(香港)鴻華科技有限公司
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  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/11/27 17:14:42
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(香港)鴻華科技有限公司是一家專業的精密儀器設備綜合解決方案集成商 ,專注精密儀器設備(科學儀器、試驗儀器設備、工業檢測儀器)研發、銷售及售后服務,向政府檢驗機構、大學高校、科研院所、工業企業及其他領域的各級實驗室/測量室供應中精密儀器設備,并提供相關技術支持和售前/售后服務,同時可提供相關增值服務。鴻華科技有限公司憑借在精密儀器設備行業積累的豐富經驗和資源優勢,著眼于國內大中型城市的主要市場區域,在現有客戶群體中已贏得良好聲譽,是具有較強競爭力的儀器設備集成供貨商。目前我們已在香港、廣州、上海、北京、鄭州、長沙、成都等地設有公司或辦事處,以香港公司鴻華科技有限公司為運營中心,以廣州公司為營銷中心,銷售網絡已涉足華南、華東、華中和華北區域。 我們擁有優秀的儀器設備銷售團隊和技術服務團隊,團隊核心成員具備豐富的儀器設備行業從業經驗,目前我們已經與眾多品牌精密儀器設備廠商建立起緊密的合作關系。經營范圍 主營:分析儀器、物理性能測試儀器、計量儀器、電子測量儀器等中精密儀器設備研發、銷售、售后服務及相關增值服務(儀器設備搬遷/安裝調試/培訓/維修保養、儀器設備租賃、分析測試服務、實驗室設計裝修、儀器設備代理進出口等)兼營:精密儀器設備領域涉及的分析測試軟件、新材料、化學試劑/耗材、輔助機械設備、治工具、自動化系統、儀器儀表元器件/零部件等研發、銷售和售后服務服務行業 高校實驗室,科研院(所),質量監督檢驗系統、出入境檢驗檢疫系統,汽車零部件、機械、五金、塑料、模具、電子電器、化工、食品、藥品、農產品、環保等相關企業,及其相關行業的第三斱檢測機構。 主營產品 通用分析儀器01 、色譜分析儀器:氣相色譜GC、液相色譜LC、離子色譜IC; 02、光譜分析儀器:分子熒光分光亮度計、原子吸收光譜AAS、原子熒光光譜AFS、近紅外光譜NIR、紅外光譜IR、紫外分光亮度計UV、光電直讀光譜儀、電感耦合等離子光譜儀ICP、拉曼光譜RAMAN; 03、質譜分析儀器:氣質聯用GC-MS、液質聯用LC-MS、等離子體質譜ICP-MS; 04、X射線儀器:X射線熒光光譜儀XRF、X射線衍射儀XRD、 X光電子能譜儀XPS、 X射線應力分析儀、電子探針、X射線探測裝置CT; 05、電子顯微鏡:透射電鏡TEM、掃描電鏡SEM、原子力顯微鏡AFM、掃描探針顯微鏡SPM、電子背散射衍射系統EBSD、X射線能譜儀EDS、離子減薄儀、超薄切片機、離子研磨儀、高真空濺射鍍膜儀、冷凍干燥儀; 06、其他:光學顯微鏡、電位滴定儀、電化學工作站、電導率儀、PH計、 水分測定儀。 物理特性測試儀器 01、力學性能測試儀(材料試驗機、硬度計、粒度儀、金相前處理設備、表面接口張力儀、接觸角測量儀、粘度計、力學工具); 02、無損檢測/探傷儀器(X射線/超聲波/滲透/磁粉探傷儀、工業內窺鏡、工業CT、電焊焊接分析儀); 03、光學顯微鏡、測厚儀、環境試驗箱; 量具量儀01、長度計量儀器((三坐標測量機、影像測量儀、三維拍照式掃描儀、激光跟蹤儀、激光全站儀、工業經緯儀、工具顯微鏡、投影儀、激光干涉儀、測高儀、量具);02、表面形狀測量儀器(輪廓儀、粗糙度儀、臺階儀、圓度/圓柱度儀);03、力學計量儀器(天平、標準測力計、壓力計、真空計、流量計、密度計);04、聲學計量儀器(聲級計、噪聲計);05、光學計量儀器(亮度計、色度計、光輻射計、光反射/透射計);06、溫度計量儀器。電子電工儀器01、通用電子測量儀器(直流穩壓/穩流電源、信號發生器、示波器、數字頻率計、掃頻儀、集成電路測試儀、頻譜分析儀)02、射頻和微波測試儀器(EMI/EMC測試系統、射頻和微波測量系統);03、大規模集成電路測試儀器。實驗室常規儀器設備 、電子天平、分析天平、臺秤、離心機、萃取機、反應釜、干燥箱、烘箱、馬弗爐、恒溫水浴/油浴鍋、純水機、攪拌器、球磨機、微波消解儀、冷凍機、防暴冰箱、通風柜、、手套箱。環境空氣監測儀器 煙氣分析儀、粒子計數器、氣體采樣器、多成分氣體分析儀、氣體校準儀、零氣發生器。
SZ-100V2 系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定。SZ-100V2的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
SZ-100V2納米粒度儀 產品信息

產品特點

顆粒分析儀采用動態光散射原理(DLS)。根據樣品的物理性質,動態測量范圍為0.3 nm – 10 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

SZ-100V2 以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發生團聚,溶液保持穩定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,發現zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇條件將顆粒進行絮凝和分離。

SZ-100V2 還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統的靜態光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2。

特征

將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

寬檢測范圍,寬濃度范圍

雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

SZ-100V2納米粒度儀樣本

15168338725
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