大樣品通量， 少停機時間，優化儀器設計
NexION 350 ICP-MS專為提高元素分析實驗室的效率而設計，特別是為納米顆粒分析領域提供了準確的表征工具。NexION 350通過非凡的三錐、三重四級桿和三種工作模式創新技術優化儀器設計，降低了背景和干擾，優化了信號的穩定性，從而樣品通量和最少化停機時間。這些功能的結合可以使實驗室專業人員在單位時間內運行更多的樣品，提供很強的儀器使用效率，儀器工作流程極優，使您和您的實驗室更加高效。NexION 350每秒可采集100,000個數據點，(比目前市場上任何其他的ICP-MS速度快10倍以上)，這個采集速率對于要求快速的瞬時數據采集分析應用是非常理想的，如納米顆粒表征、形態分析和激光燒蝕聯用，都能確保關鍵信息不會丟失。NexION 350專用納米應用模塊——Syngistix，可提供水平的納米檢測與表征。通過與NexION 350的各功能實現，借此在快速發展的納米材料科學實驗室的專業人員可以顯著改進實驗過程，如獲得顆粒成分分析及濃度的同時還可獲知顆粒粒度分布信息。這些結果都可以在一個單一運行，在不到一分鐘的時間內直接得到，不再需要繁重的人工計算。
長期穩定性
PerkinElmer公司設計理念看重的長期穩定性，不僅是儀器驗收時所做的2h或4h的穩定性，更看重的做實際樣品（高含量鹽分，或大量有機物）的穩定性，還包括儀器用15年、甚至20年后的穩定性。
的穩定性鑄就非凡生產力
NexION ICP-MS運用了一系列技術革新以降低背景和干擾，優化信號穩定性，減少維護需求和停機時間，獲得更好結果。
帶來更精確結果的路徑設計
NexION 350 ICP-MS的離子路徑具有干凈和穩定的環境，為儀器提供更準確和穩定的測試結果。從強大的樣品引入系統到的檢測器，每個部件均為獲得更易用，更優性能和更佳的實驗室效率而精心設計。
三錐接口
除去其它系統具有的典型的采樣錐和截取錐外，NexION 350 ICP-MS還具有的超截取錐，用于獲得更緊密的聚焦離子束。的三錐接口之間壓力降低幅度更小，保證更小離子分散和阻止樣品沉積在內壁。無需調節電壓，所有三個錐均在真空區以外，因此它們能夠被快速、簡便地拆卸，清洗和更換維護更加簡單，同時減少了停機時間。的三錐接口保證了靈敏度和穩定性。相比于其它儀器系統，該儀器的維護更加快速和簡單。
四級桿離子偏轉器
作為NexION 350 ICP-MS三個四級桿中的個，四級桿離子偏轉器形成對三錐接口的有力補充，用于增強穩定性和消除漂移。它具有突破性的過濾功能，在進入的通用池和四級桿之前，將離子束偏轉90度，可提供無以倫比的穩定性，降低背景和干擾，從而獲得準確的結果。四級桿離子偏轉器在同類過濾器中是很強大的，它使您能夠在離子飛行過程中通過自動地調節質量帶寬，在一次分析中使每個元素分析條件均達到。
通過四級桿離子偏轉器的路徑與離開三錐接口的離子束緊密對齊。這樣可確保離子和中性粒子從不與部件表面接觸，保證潔凈，從而提供額外的信號穩定性，即使連續地運行很復雜的基體也不例外。三錐的離子束聚焦高效率和與四級桿離子偏轉器對齊的設計，消除了必需的提取透鏡，更少的維護需求和阻止高背景等效濃度（BEC），獲得更穩定和一致的分析環境。
該儀器可有效地消除未電離物質，是從不需要清洗或更換池就能提供極大儀器運行時間和快速收回投資的ICP-MS。
