奧林巴斯偏光顯微鏡BX51-P是利用偏光識別樣品的不同特性的高級偏光系統顯微鏡。適用于各向同性、各向異性材料的鑒別，廣泛應用于礦物、化工產品，醫學、植物學等分析。
UIS2物鏡觀察到的鮮明影像
能夠實現最小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發的熒光觀察的通用物鏡，能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。(來源：成貫儀器)
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
觀察影像實例
石英閃長巖中的斜長石帶狀結構 液晶MBBA(甲氧基的氨基聯苯丁基苯胺)
UPLFLN-P系列物鏡規格 | ||
產品名稱 | 數值孔徑 | 工作距離 |
UPLFLN4XP | 0.13 | 17.0mm |
UPLFLN10XP | 0.3 | 10.0mm |
UPLFLN20XP | 0.5 | 2.1mm |
UPLFLN40XP | 0.75 | 0.51mm |
UPLFLN100XOP | 1.3 | 0.2mm |
ACHN-P系列物鏡規格 | ||
產品名稱 | 數值孔徑 | 工作距離 |
ACHN10xP | 0.25 | 6.0mm |
ACHN20xP | 0.40 | 3.0mm |
ACHN40xP | 0.65 | 0.45mm |
ACHN100xOP | 1.25 | 0.13mm |
操作性能和光學性能
操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機體
奧林巴斯偏光顯微鏡BX51P追求人機工程學的Y形框架，操作更為舒適，提高了觀察效率。極大地降低了長時間觀察的疲勞度。 (來源：成貫儀器)
視場數達到了22，與一般視場數為20的顯微鏡相比，觀察的范圍增寬了21%。此外，照明系統采用了12 V，100W明亮的鹵素燈，能觀察明亮逼真的偏振光影像。
支持更高效的偏振光觀察的載物臺
帶有旋轉中心輸出機構的旋轉載物臺，樣品可以流暢旋轉。此外，每隔45°裝有的鎖定機構，提高了觀察效率。
旋轉載物臺上裝有復式機械載物臺，能夠控制樣品的細微移動。
旋轉載物臺 復式機械載物臺
對應高級偏振光觀察的附件
偏振光性能優異的附件
各種補償板的延遲測量范圍
全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設計，提高了偏振光性能，實現了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。 (來源：成貫儀器)
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
各種補償板的延遲測量范圍 | ||
補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結晶、高分子、纖維、光彈性失真等） |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量（結晶、高分子、纖維、生物體組織等） |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等） |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量（結晶、生物體組織等） |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量（結晶、高分子等） |
*R表示延遲。
為提高測量精度，建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。（U-CWE2除外）
鮮明的正像鏡影像和錐光鏡影像
錐光鏡／正像鏡觀察單元
簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡，并且能夠對焦錐光鏡影像。此外，采用了伯特蘭透鏡，即使是樣本的微小范圍，也能觀察到逼真的錐光鏡影像。(來源：成貫儀器)
使用數碼照相機可以記錄保存數碼圖像
奧林巴斯偏光顯微鏡BX51-P三目觀察筒可以連接數碼照相機。可以保存和記錄數碼影像，幫助創建檢查報告。可從畫面質量、功能、操作性等方面選擇所需的數碼照相機。奧林巴斯圖像分析軟件是專門為工業顯微鏡應用程序設計的，擁有直觀的操作菜單和高級軟件例行程序。用戶被使用新的圖像分析和管理方案，以滿足特定應用程序的需要。
