貴金屬檢測儀XF-A6
產(chǎn)品介紹
在貴金屬檢測領(lǐng)域,傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測,具有消耗性和危險性,且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對成熟,可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數(shù)點后四位數(shù),是我國普及型貴金屬檢測技術(shù)的發(fā)展方向。西凡科技制造的金銀檢測儀引用的就是X射線熒光光譜法這種*的貴金屬檢測技術(shù)。
貴金屬檢測儀XF-AX是西凡科技根據(jù)多年的貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗,自主研發(fā)生產(chǎn)的X射線熒光光譜檢測儀之一,是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口SDD探測器,采用航空設(shè)計,大氣,擁有十多項研發(fā),性能突出,體積小重量輕,符合新國標(biāo)GB18043-2013,可對金銀首飾進行準確檢測。
產(chǎn)品優(yōu)勢
性價比高
可以快速準確檢測各種貴金屬,應(yīng)用廣泛!
無損檢測
不會對珠寶首飾等被測樣品造成任何損壞。
操作簡單智能
一鍵測試功能,自動化檢測無需配備專業(yè)人員
檢測快速。
3秒定性,7秒可得出直觀結(jié)果。
便于攜帶
一體化設(shè)計,占用空間小,便于攜帶與管理。
安全耐用
具備反輻射功能,整機壽命超過10年
精準度高
可靠的檢測數(shù)據(jù)。
操作安全
加裝防輻射裝置,主動保護操作人員安全。
XF-A6技術(shù)參數(shù)
設(shè)備原理:X熒光能量色散
精確度: ±0.05%
整機分辨率:145±5eV
探測器: 進口Si-PIN探測器
適用溫度: -11~46℃
內(nèi)置電容觸摸LED屏:是(9.7吋OLED)
標(biāo)簽打印機:支持
儀器尺寸::312x480x310mm
測試室尺寸:300x240x110mm
天平/密度儀:支持
是否電腦:電腦一體機
電壓: 100V~240V
額定功率:160W
重量:22公斤
標(biāo)準配置
全局故障診斷
擴展線材及輔助支架
升降壓預(yù)啟動
擴展屏
應(yīng)用領(lǐng)域:
- •珠寶首飾店
- •典當(dāng)行
- •鑒定
- •首飾工廠
- •珠寶學(xué)校
- •專業(yè)實驗室
- •質(zhì)檢機構(gòu)
- •金屬工藝品
- •貴金屬冶煉
- •貴金屬提純
- •貴金屬回收
- •地礦勘探
- •稀貴金屬
- •合金材料
- •黃金加工
產(chǎn)品榮譽證書

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