產品描述
XDV-SDD測量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復雜的大樣品。連續測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY工作臺完成。操作很人性化，測量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。
XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務建立優化的激發條件。FISCHERSCOPE XRAY XDVSDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準直器的情況下，可以達到很高的計數率，從而實現良好的重復精度和極低的檢測下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時可測元素的范圍也擴“大到更低原子序數的元素，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。
應用實例：
法律條例嚴格限制多種有害物質的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如，測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學元素Pb、Hg和Cd等。
| 金屬中的有害物質，如鋁合金中的Pb, Cd | 玩具：檢測其中的 Pb, Cd, Hg |
特征：
。帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。*高工作條件: 50kv, 50W。X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
。準直器: 4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm
?；緸V片: 6個，可自動切換帶彈出功能的可編程XY平臺
。視頻攝像頭可用來實時查看測量位置,十字線上有經過校準的刻度標尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
。設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節
典型應用領域：
。測量超薄鍍層，例如電子和半導體行業。痕量分析，例如按照RoHS,玩具和包材指令檢測有害物質
。高精度黃金和貴金屬分析光伏行業
。測量NiP層的厚度和成分
