一、產品介紹：

GYB-300型引伸計檢定儀是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762—2007引伸計檢定規程要求，專門用于對各類引伸計的標定，可進行0.5級引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的標定。

二、產品特點：

1、GYB-300引伸計檢定儀由精密微分測頭及測量支架組成。該標定器是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置配件進行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外簡及高精密螺紋付組成。其大量程25mm；小分度(游標分度)0.0002mm；旋轉外筒分度0.002mm。

位移變化讀數為：
L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中：a－內筒毫米刻線讀數
b－外筒刻線讀數
c－游標刻線讀數
a0 b0 c0　為相應位移變化前讀數

三、技術指標：

1、測量引伸計標距范圍L max        500mm （≥250mm需另配加長桿費用另付）

2、測量支座上支臂安裝孔徑         φ10；φ28

3、微分測頭讀數內筒軸向刻度       0.5mm／格

4、微分測頭讀數內筒游標刻度       0.0002mm／格

5、微分測頭讀數外筒園周刻度       0.002mm／格

6、高精密微分測頭精度指標：      量程0.5mm以內≤0.5μm  （誤差）量程0.5mm以上≤0.10%  （逐點相對誤差）

四、參考標準：

JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范
ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定
JJG762-1992 引伸計檢定規程