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廣電計量檢測集團股份有限公司

日本電子掃描電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱深圳市鴻永精儀科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號JSM-7800F
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/11/9 15:42:48
  • 訪問次數298
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深圳市鴻永精儀科技有限公司是國內的實驗室器材,用品用具,一站式解決方案規劃設計實施的服務型平臺企業。公司成立于2016年,由國內相關行業負責人和高級工程師組成,相關人員從業時間均高于八年。公司能夠有效為客戶提供各種實驗室構建,儀器設備選配,實驗室規章協助,CNAS認可協助等、立體化的創新性服務平臺企業。  公司現有四大核心事業部:工廠級實驗室構建、科教研單位實驗室托管、儀器設備周邊配套及耗材試劑、儀器設備前后端特種線纜銷售。  工廠級實驗室構建:助力制造行業,全方面提升企業產品品質,控制質量風險,提高品牌競爭力;包含質量中心構建,儀器設備選配,整體科學實驗室設計實施等服務。  科教研單位實驗室托管:助力科教研單位,全方面升級管理實驗室,降低實驗室運營成本,提高實驗室運營效率,整合實驗室產能,做大資源優化及協調;包含實驗室包年服務,售后整包,實驗室產能外包等核心服務。  儀器設備周邊配套及耗材試劑:助力所有實驗室企事業單位用戶,提供高效快捷的耗品耗材,前處理設備儀器采購服務,公司服務工程師可根據客戶現有設備儀器提供更加符合型的耗材試劑品牌產品,降低用戶采購周期和選擇性失誤的影響。  儀器設備前后端特種線纜銷售:配套廠家著重研發,快速有效,助力軌道交通新標準、新高度;合作軌道交通用戶,提供高標準、高質量、長期效的線纜產品,能有效應用到復雜的各種環境中。  深圳市鴻永精儀科技有限公司始終秉承立足客戶之所需,解決客戶之所急,提供全面優質完善的解決方案和建議。    公司理念:鴻圖遠志 永續創新  服務理念:誠于品   信于德     立于行
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡 產品信息
新一代掃描電鏡JSM-7800F配備了新開發的超級混合式物鏡(SHL),在保持的可操作性的同時,實現了低加速電壓下的高分辨率,電子源采用浸沒式(in-lens)肖特基場發射電子槍,因而能以大束流電流進行穩定的分析。

通過超級混合式物鏡(SHL)進行高分辨率觀察

JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場和靜磁場疊加的超級混合式物鏡(SHL),由于減少了色差及球差,極大地提高了低加速電壓下的分辨率。此外,SHL不會對樣品形成磁場影響,因此觀察磁性材料的樣品和進行EBSD測試可以不受制約。

低加速電壓下的能量選擇

能量過濾器位于高位檢測器 (UED)的正下方,可以選擇能量。即使在低加速電壓下,也能夠精確地選擇二次電子和背散射電子,因而可以通過低加速電壓下的背散射電子像,觀察樣品的淺表面。

通過Gentle Beam (即柔和光束GB模式)觀察樣品的淺表面

給樣品加以偏壓(GB),對入射電子有減速、對釋放出的電子有加速作用。即使入射電子束到達樣品時的能量很低,也可以獲得高分辨率、高信噪比的圖像。如果利用能施加更高偏壓的GB模式,用數十電子伏能量的入射電子束,就可以進行更高分辨率的觀察。

通過多個檢測器獲取樣品的所有信息

JSM-7800F配有四種檢測器:高位檢測器(UED) 、高位二次電子檢測器(USD)、背散射電子檢測器(BED)和低位檢測器(LED)。UED過濾器的電壓不同,二次電子和背散射電子的數量會改變,因此可以選擇電子的能量,USD檢測被過濾器彈回的低能量電子,BED通過檢測低角度的背散射電子,能清楚地觀察通道襯度。利用LED的照明效果能夠獲得含有形貌信息的、富有立體感的圖像。

應用實例

  • 低加速電壓下的觀察
    利用JSM-7800F的GB模式,到達樣品的能量從10 eV開始就可以觀察。下面將到達樣品的能量設定為80 eV進行實例觀察:
    一個碳原子厚度的石墨薄片的表面

    樣品: 石墨烯 到達能量80eV

  • 能量選擇
    UED和USD能同時獲取背散射電子像(左圖)和二次電子像(右圖),因此可以精確地解釋圖像。二次電子像主要反映形貌信息,金顆粒和TiO2的襯度沒有明顯不同,而背散射電子像中原子序數高的金顆粒則顯得明亮。

    背散射電子像二次電子像
    樣品: 金負載型TiO2催化劑(2kV)g


  • 利用GBSH觀察
    利用GBSH對樣品施加高偏壓,像差將會減小,圖像的高分辨率會更高。能清楚地觀察到介孔二氧化硅里中的微孔(下圖)。

    樣品:介孔二氧化硅 到達樣品的能量: 1keV

  • 觀察磁性材料樣品
    SHL物鏡能抑制磁場的泄漏,因此即便是磁性材料的樣品,也可以用極低的入射電子能量很容易地進行高分辨率觀察 。

    樣品: 磁鐵礦納米顆粒 到達樣品的能量: 1keV

  • 磁性樣品的EBSD測試
    SHL沒有磁場泄漏的影響,也很適合于EBSD。象下圖所示那樣,通過反極圖能準確地確定晶體的取向。

    分析點數: 118585
    尺寸:
    X: 80.00微米, Y : 79.89微米
    步長: 0.25微米
    相: Nd2Fe14B
    從樣品中獲得的EBSD花樣實例
    ( 在任意點上獲取)
    ND
    TD
    RD



關鍵詞:催化劑
15168338725
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