BUCHI 偏振干涉儀 BUCHI 通過使用折光率的晶體已經成功改造了石英偏振干涉儀。這樣可以提供分辨率和緊湊設計，同時又保持了對機械擾動不敏感的優點。該干涉儀在惡劣環境中能夠保持性能的原因在于：在厚度可變的雙折射晶體中，利用兩個光束的空間運動偏差和光路偏移。在 Michelson 型干涉儀中，機械形變會直接影響干涉效果，但在偏振干涉儀中，這種影響會被降低 10 至 20 倍。
雙燈模式 在 NIR 光譜儀的可用性方面，BUCHI 已經樹立了新的標準。我們的 NIR 光譜儀配備有雙燈模式，在這種模式下，如果主光源發生故障，會自動切換到第二個集成式燈。這樣可將儀器故障的風險降至，并預留充足的時間來定購備用燈。同時，您可繼續測量工作，不會受到更多干擾。
一體化標準 每個 BUCHI FT-NIR 光譜儀都配備有各種灰色濾光片并設置了一種波長標準。它們使用專門設計的軟件模塊，能夠對波長精度、信噪比和線性度進行檢查。這些測量結果構成了醫藥工業中的系統穩定性測試 (SST)，從而達到規定要求。
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