多角度激光橢偏儀SE 400adv
亞埃精度
穩定的氦氖激光器保證了0.1埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。
擴展激光橢偏儀的極限
性能優異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數和膜厚。
高速測量
我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監控單層薄膜的生長和終點檢測，或者做樣品均勻性的自動掃描。
結合橢偏反射CER的SE 500adv
厚度確定
橢偏測量和反射測量的結合允許通過自動識別循環厚度周期來快速且明確地確定透明膜的厚度。
寬的測量范圍
激光橢偏儀和反射儀的結合將透明薄膜的厚度范圍擴展到25μm，更多地取決于光度計的選項。
擴展激光橢偏儀的極限
性能優異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數和膜厚。
