ATP5034/5030制冷型高分辨率光纖光譜儀采用制冷的2048或4096像素線陣探測器，適用于各種高分辨率應用場合，同時具備高可靠性、高速、低成本、高性價比等特性，可適應在線測試等各種環境用途的微型光譜儀。
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纖光譜儀產品簡介：
ATP5030/4是新開發的一款制冷型、高分辨率微型光譜儀，它采用制冷的2048或4096像素線陣探測器，達到了的高分辨率，*高分辨率可達0.05nm，適用于各種高分辨率應用場合，同時具備高可靠性、高速、低成本、高性價比等特性，可適應在線測試等各種環境用途的微型光譜儀。
ATP5030/4采用TEC電制冷，制冷溫度-5℃。大大降低了光譜儀的暗電流和噪聲，提高了光譜儀的動態范圍和信噪比。
ATP5030：探測器像素2048
ATP5034：探測器像素4096
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纖光譜儀產品特征：
探測器制冷溫度：-5 ℃
內置氙燈同步觸發控制電路
光譜范圍: 200-1100 nm;
光譜分辨率: 0.05-2nm;
光路結構: 非交叉C-T;
檢測器： 2048或4096像素;
積分時間: 0.1ms-256s;
供電電源: 直流5V USB供電;
ADC位深：16位;
ADC采樣率：2MHz;
數據輸出接口：USB Type-C;
30針擴展接口
ATP5034/5030制冷型高分辨率光纖光譜儀應用領域：
LIBS、等離子體發光檢測;
拉曼光譜檢測;
波長監測，激光、LED等發光體
水質分析儀
紫外煙氣分析儀
LED分選機、顏色檢測;
微量、快速分光光度計;
光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析
反射、透射光譜檢測
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ATP5034/5030制冷型高分辨率光纖光譜儀技術參數：
Type | Linear array detector |
Detectable range | 200-1100 nm |
Effective pixel | 2048 or 4096 pixels |
Sensor Cooled | TEC cooled, -5 ?C |
Pixel dimension | 14μm × 200μm |
Sensitivity | 1300 V/(lx·s) |
Dark noise | 13 RMS @ 13 ?C |
Optical Parameter | |
Wavelength range | 200-1100 nm |
Optical resolution | 0.07-3 nm |
Signal-to-noise | >600:1 |
Dynamic range | 8.5 x 107 (system); 2000:1 for a single acquisition |
Stray light | <0.05% at 600 nm; <0.09% at 435 nm |
Working temperature | -25-50 oC |
Working humidity | < 90%RH |
Optical Configuration | |
Optical Design | Czerny-Turner |
Focal Distance | 75mm |
Incidence slit | 50 μm (10, 25, 100 um are optional) |
Incident Interface | SMA905 connector |
Electrical Parameter | |
Integration time | 0.1 ms - 256 second |
Interfaces | USB Type-C |
A/D conversion resolution | 16 bit |
Supply voltage | DC4.5 to 5.5 V (type @5V) |
Operating current | 170mA@Typ. |
Storage temperature | -30°C to +70°C |
Operating temperature | -25-50 oC |
Physics Parameter | |
Dimension | 150 × 90 × 37.5 mm |
weight | 0.5kg |
Sealing | Anti-sweat |
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