布魯克的Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter 是能夠直接在透射電子顯微鏡 （TEM） 內觀察的深度感應納米壓痕設備。有了這種測試儀器，不僅能夠對納米級材料的力學響應進行成像，還可以同時獲取載荷-位移數據。此外，集成視頻接口允許在載荷-位移曲線和對應的 TEM 視頻之間進行同步。

一、亮點

1）全面------深度感應納米壓痕

實現TEM內納米力學測試的直接觀測；

2）高性能------高級控制模塊

提供高達 78 kHz 反饋速率和38 kHz 的數據采集速率，以捕獲瞬態事件（如錯位突變等）。

3）精確------三級定位系統

包括三軸定位器、3D 壓電調整器和用于靜電驅動和電容位感應的高級傳感器。

二、特點

1）針對您的 TEM 的定制解決方案

Hysitron PI 95 經過精心設計，可與 JEOL、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容。有了這種儀器，不僅能夠對納米尺度材料的力學反應進行成像，而且可以同時獲取定量機械數據。集成的視頻接口允許載荷-位移曲線和相應的 TEM 視頻同步。

2）針對納米級研究進行了優化

Hysitron PI 95 特別適用于納米尺度現象的研究。在 TEM 中執行這些類型的研究可以明確區分力或位移瞬變的許多可能原因，這些原因可能包括錯位爆發、相變、剝落、剪切帶或斷裂產生。

3）的性能

Hysitron PI 95 采用三級控制進行定位和力學測試。除了三軸粗定位器和用于精細定位的三維壓電調整器外，該儀器還配備了用于靜電驅動的傳感器和用于獲取定量納米級力學測試數據的電容位移傳感器。

三、提供泛的創新表征技術------選項和附件

1） 樣品安裝------納米級材料的多種設計；

2）SEM 和 TEM 加熱臺------直接測量和觀察熱啟動材料轉化；

3） 原位納米劃痕模塊------同時具有正壓力和橫向力的高分辨率測量功能；

4）納米動態力學------施加振蕩力,持續測量粘彈性和疲勞特性,獲得其作為接觸深度、頻率和時間的函數；

5）電學特性模塊(ECM)------在納米壓痕、壓縮或拉伸加載期間同時進行原位電特性測量；

6）壓轉拉模塊(PTP)------專為納米線和獨立薄膜而設計。

 四、相關圖片

1）Hysitron PI 95 經過精心設計，可與 JEOL、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容

2）壓縮前和壓縮后鎳納米柱的暗場 TEM 圖像。最初在柱子中觀察到的高錯位密度在壓縮時已經消失。（來源：Nature Materials 7， 115-119 （2007）.）

3）示例 1 μN 劃痕測試：（1） 正向和橫向載荷，正向位移隨時間變化；（2-5） 原位 TEM 視頻中的相應幀，顯示 DLC 薄膜在顆粒頂部的變形