Microtech太赫茲時域光譜儀-太赫茲光譜儀
一、Microtech成像系統
1、光柵掃描成像系統
Microtech太赫茲時域光譜儀-太赫茲光譜儀 使用與透射光譜儀相似的光學配置，但利用線性平臺來支撐和移動太赫茲光束焦點中的物體。中心焦點確保成像儀具有良好的分辨率，并通過將整個信號聚焦在一個小點上，從而實現高動態范圍。
關鍵特征包括：
- 可與BWO和TPO源一起使用
- 配有易于使用的軟件
- 無損評估的理想工具
2、T-Vision：視頻流成像系統
T-Vision成像系統為高幀率成像應用提供了的解決方案。T-Vision成像系統是一套完整的集成系統，集成了我們的TPO發生器和成像元件。成像是基于無線性進程，進程中hte太赫茲圖像是混合了近紅外脈沖，產生一個向上轉換的近紅外圖像用于和CMOS相機探測使用。該系統可根據客戶具體需求客制化。用戶可根據具體的應用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光譜系統。
T-Vision系統是一個一體化系統，將我們的TPO發生器與成像光學系統集成在一起。成像是基于一個非線性過程，其中THz圖像與近紅外脈沖混合，產生一個上轉換的近紅外圖像，該圖像可通過CMOS相機檢測。此外，該系統還可根據用戶的需求進行定制。
二、Microtech太赫茲時域光譜儀-太赫茲光譜儀
Microtech Instruments公司可提供整套的太赫茲光譜系統，以滿足用戶各種不同的需求：
-緊湊型THz光譜系統
-THz透射光譜系統
-THz反射光譜系統
-THz馬赫—曾德干涉光譜系統
1、緊湊型 Microtech太赫茲時域光譜儀-太赫茲光譜儀
美國Microtech公司提供的緊湊型太赫茲光譜儀能夠在100GHz到1.5THz光譜范圍內進行透射測量。該系統是基于毫米波返波振蕩器(BWO)與倍頻器和寬頻熱釋電探測器的相結合。太赫茲光譜儀能夠在180GHz到1.42THz的光譜范圍內進行高分辨率的光譜測量。這些系統運用了頻率可調諧的返波振蕩器(BWOs)作為太赫茲輻射源，Golay Cells（高萊探測器）作為探測器。
主要特點：
- 光譜范圍：100 GHz – 1.5 THz
- 光譜分辨率：1 – 10 MHz
- 動態范圍：10^4
技術參數：
光譜范圍：
- TScan-260：180-260GHz
- TScan-370：180-260GHz
- TScan-1100：180-1100GHz
- TScan-1250：180-1250GHz
- TScan-1420：180-1420GHz
2、太赫茲透射光譜系統
使用透射光譜系統進行透射測量是表征高透明材料的方法。特別是，平面平行板的透射光譜由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因呈現出周期性透射圖樣。可通過這些測量決定介電常數實部和虛部，因為標準具條紋的周期和振幅分別取決于材料折射指數和吸收率。
對半透明材料進行特征分析則需要使用THz Mach-Zehnder干涉光譜系統，具體請看以下Mach-Zehnder干涉光譜系統的介紹。因為在此類材料的透射光譜中無法觀察到標準具條紋。Mach-Zehnder裝置可以測量由樣品作為頻率函數所引起的相移。結合這些數據和透射光譜，可以計算出介電常數的實部和虛部。
3、Mach-Zehnder（馬赫—曾德）干涉光譜系統
半透明材料的表征需要使用THz Mach-Zehnder干涉光譜系統，因為在此類材料的透射光譜中無法觀察到標準具條紋。Mach-Zehnder裝置可以測量由樣品作為頻率函數所引起的相移。結合這些數據和透射光譜，可以計算出介電常數的實部和虛部。
高吸收材料只能用反射幾何體來表征。
4、太赫茲反射光譜系統
不透明材料的表征需要反射光譜系統。這是由于發射信號太弱，無法表征，因此采用六軸控制系統測量反射信號。與透射光譜儀和相位分光計一樣，通過軟件的理論擬合能力，可以快速計算出折射率、消光系數和雙折射函數的實部和虛部。
太赫茲透射、Mach-Zehnder和反射光譜系統由TScan軟件支持，可實現自動數據采集和分析。對于系統中使用的每個BWO，一次光譜掃描需要1-5分鐘。
