連接器冷熱沖擊試驗箱是用于測試手機連接器，電腦連接器，電源連接器，信號連接器，PCB連接器，FPC連接器，電感器、濾波器、變壓器，電子，電器，電子產品，電子元器件，數碼產品，手機，電腦，太陽能組件，光伏組件，光纖，光電，LED，LCD，PCB，FPC，微電子，電機，，航天，航空，汽車燈產品及零部件在瞬間下經溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
連接器冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環）測試程序的電連接器和插座的環境影響評估
試驗箱工作示意圖：
