特性: | ||
1 本設備能連續自動測試薄膜電容的八個參數:低電平開路(C0)、10KHz(D10)直流耐壓(DCTV)、交流耐壓(ACTV)、絕緣電阻(IR)、100KHz損耗(D100)、1KHz損耗(D1)和容量分選(△C),并自動分檔。 | ||
2 本設備采用PLC控制,觸摸屏操作,速度采用變頻控制器連續可調。 | ||
3 本設備采用進口分割器控制、停止測試,采用四端測量的測試方式使測試精度相對提高。 | ||
主要技術指標: | | |
1.試驗檢出RT沒有容量的產品自動除去。 | ||
2.SH檢出:測試電壓在DC1.5V時,阻值小于2KΩ判定為不良及排除 | ||
3.低電平開路:C0(TH2817A)10KHZ頻率下,測量其損耗值,超過設定值為不良及排除 | ||
4.AC耐壓測試: | a、6級獨立AC耐壓測試,在設定電壓下,超過設定電流為不良及排除。設定電壓為0-2KV,電流為0.1mA-1999mA。 | |
b、此耐壓測試為有產品在端子上,通過SSR控制,有電壓加上,如沒有產品,此端子沒有電壓。 | ||
5.直流耐壓測試: | 測試電壓為DC200V-5000V,測試設定電流為1mA,10mA,如超過設定值為不良。 | |
6.IR絕緣測試: | a、測試電壓為DC50V,100V,250V,500V。 b、測定范圍在1.00MΩ-199.9GΩ,低于設定值為不良。 | |
7.100KH測試(TH2817A):在100KHZ狀態下,測試其tgδ值,超過此值為不良 | ||
8.1KHZ測試容量損耗(TH2817A):在1KHZ狀態下測試C1,C2,D2。 |