我公司推出OLED器件、有機太陽能電池OPV、鈣鈦礦太陽能電池、鈣鈦礦LED及其他有機半導體器件和無機半導體光電性能測量系統（載流子遷移率測量系統）、電學性能評估系統、發射角度光譜分析系統以及相關器件的軟件模擬研發系統，為廣大科研工作者和研發機構提供了有效的測試工具。

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?主要應用：
* 無機半導體光電器件，有機半導體光電器件；
* 有機太陽能電池OPV；
* 鈣鈦礦太陽能電池Perovskite Solar Cell，鈣鈦礦LED；
* 無機太陽能電池（例如：單晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太陽能電池）；
* 染料敏化太陽能電池DSSC；

? 主要測量功能：

* 點亮電壓（電流電壓照度特性 I-V-L）
* 發光壽命，載流子遷移率（瞬態電致發光法 TEL）

* OLED/鈣鈦礦LED發光特性測量；
* 載流子密度，載流子動力學過程（瞬態光電流法 TPC）
* 載流子壽命，載流子符合動力學過程（瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV）
* 載流子遷移率（暗注入瞬態法 DIT，單載流子器件&OLED）
* 串聯電阻，幾何電容，RC時間（電壓脈沖法 Pulse Voltage）
* 參雜密度，電容率，串聯電阻，載流子遷移率（暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV）
* 載流子遷移率，載流子密度（光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV）
* 載流子復合過程，朗之萬函數復合前因子（時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV）
* 不同工作點的載流子強度，載流子遷移率（注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV）
* 幾何電容，電容率（MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV）
* 陷阱強弱度，等效電路（阻抗譜測試 IS）
* 遷移率，陷阱強弱度，電容，串聯電阻（電容VS頻率 C-f）
* 內建電壓，參雜濃度，注入勢壘，幾何電容（電容VS電壓 C-V）

測量技術：

1）IV/IVL特性：IV和IVL曲線是針對OLED和OPV標準的量測手法，通過曲線可以得到樣品的電流電壓特性關系、電流電壓與光強的特性關系；
*對于有機半導體材料可通過空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等；|
2）瞬態光電流響應法（Transient Photocurrent ）：研究載流子動力學過程和載流子密度等；
3）瞬態光電壓（Transient Photovoltage）：研究載流子壽命和復合過程；
4) 雙脈沖瞬態光電流（Double Transient Photocurrent）：分析電荷載流子俘獲動態過程；
5) 暗注入瞬態法（Dark Injection）：對于單載流子器件和OLED，研究其載流子遷移率；
6) 電壓脈沖法（Voltage Pulse）：串聯電阻、幾何電容和RC效應分析；
7) 暗態線性增壓載流子瞬態法（Dark-CELIV）：參雜濃度、相對介電常數、串聯電阻、電荷載流子遷移率測量；
8) 光照線性增壓載流子瞬態法（Photo-CELIV）：提取有機太陽能電池片內載流子遷移率mobility ，以及載流子濃度分析等；
9) 時間延遲線性增壓載流子瞬態法（Delaytime-CELIV）：復合動態過程分析和郎之萬復合因子分析等；
10）注入線性增壓載流子瞬態法（Injection-CELIV）：電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析；
11）MIS-CELIV：幾何電容和相對介電常數分析；
12）阻抗譜測量（Impedance Spectroscopy）：器件等效電路分析等；
13）電容頻率測量法（C-f）: 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯電阻測量；
14）電容電壓測量法（C-V）：內建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量；
15）瞬態電致發光測試（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的載流子，磷光壽命測量；

另外，我公司提供專業太陽能測試設備制造商為客戶提供全套專業的設備：

1.太陽能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統；
2.太陽能電池測量系統（光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統，I-V曲線測量系統），太陽能電池測試儀；
3.太陽能電池I-V曲線測量系統；
4.I-V 數據采集系統；
5.大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/全光譜太陽光模擬器；
6.太陽能電池分選機；
7.太陽能電池I-V測試儀；
8.分光輻射度計，
9.參考電池/標準電池，
10.太陽能模擬器均勻性圖像分析系統；
11.有機太陽能電池載流子遷移率測量系統；
12.鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統；
13.太陽能電池少數載流子測量系統；