詳細說明

FISCHERSCOPE HM 2000是一款專業的納米壓痕測量儀器，適用于通過納米壓痕法分析材料的機械與彈性特性。其非常堅固且尺寸穩定的構造可減少震動與溫度波動的影響。穩定的測量條件使其非常適用于要求嚴苛的研發與工業應用中的測量任務。此外，它的全自動測量程序使其成為連續測試的理想之選。

特性：

• 眾多塑性與彈性特性的測定，例如壓痕硬度（可轉換為維氏硬度）、壓痕模量以及蠕變
• 符合 DIN EN ISO 14577-1 與 ASTM E 2546 標準的材料參數測量與計算
• 模塊化構造使其能夠靈活適應客戶特定要求，可追溯性更強
• 壓頭：維氏、柏氏或硬質合金球
• 測量頭，適用于在恒定溫度下進行的長達數小時的蠕變測量
• 具有三種倍率的顯微鏡，適用于測量點的準確定位
• 通過快速行進實現自主、高度準確的零位測定
• 適用于多測量點自動化測試的可編程 XY 工作臺
• 通過高性能 WIN-HCU 軟件快速評估并清晰地呈現測量結果

應用：

• 研發中的表面表征，例如科研植入物的硬鉻或陶瓷涂層
• 復雜幾何形狀（如套管）上的硬度測試
• 電鍍行業中部件批量生產的連續測試
• 電路板的質量保證，例如薄金鍍層的電阻測試或絕緣層控制
• 測試金屬箔的韌性與強度
• 針對決定磨損的性能測量，例如 PVD 或 CVD 涂層以及硬質材料（如氮化鈦、氮化鉻以及氮化鋁鈦涂層）的硬度與強度
• 薄 DLC 涂層的機械性能、彈性以及塑性特性
• 油漆涂層的硬度與彈性測量，例如汽車車漆
• 測試陽極氧化層的機械性能（硬質陽極氧化層）
• 驗證涂層的耐刮擦性與耐磨性
• 針對多個樣品進行自動化測量

附件（可選）：

• 封閉的測量艙以避免外界干擾，如來自空調機組的氣流
• 主動阻尼工作臺，以減少振動影響
• 可加熱的樣品覆蓋層，用于在溫度不斷升高的情況下進行材料測試
• 原子力顯微鏡 (AFM)：記錄樣品的三維表面并測量其他材料參數，如摩擦特性
• 高精度定位臺，可實現 < 500="" nm="">的定位精度
• 更強大的顯微鏡，具有自動對焦與自動對象識別功能
• 適用于不同樣品的樣品夾具