詳細說明
產品品牌：Bruker
產品產地：
產品型號：M4 TORNADO PLUS
產品描述：作為微區X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產品，M4 TORNADOPLUS又增添了的功能
M4 TORNADOPLUS - 微區X射線熒光成像的新紀元
M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。
作為微區X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產品，M4 TORNADOPLUS又增添了的功能，例如創新性的孔徑管理系統，高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。
更輕、更快、更深
M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器（SDD）實現對輕元素碳的檢測，高通量脈沖可以大程度提升采樣速度，BRUKER孔徑管理系統（AMS）可以獲取超大景深，對表面不平整樣品分析具有的優勢。
超輕元素檢測
M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質元素碳的微區X射線熒光成像光譜儀，具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個特別優化的Rh靶X射線光管。
與普通微區X射線熒光成像光譜儀不同，M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內元素靈敏度的前提下，還可以檢測原子數小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。
隨著功能性的增強，M4 TORNADOPLUS應用也正在開發和拓展中，例如地質學、礦物學、生物學、聚合物研究或半導體行業等方向。
應用實例-螢石和方解石的區分
螢石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區別在于分別存在輕質元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微區X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z＜11(Na）的元素，無法區分這兩種礦物，所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線。
利用超輕元素探測器，M4 TORNADOPLUS可以檢測氟（F）、氧(O)和碳(C)，從而可靠地鑒別這兩種礦物。
圖：鑒別螢石與方解石
左：方解石（紅）和螢石（藍）的元素分布圖；圖像尺寸：20×12mm2；掃描分辨率：800×460pixels
右：螢石（藍）和方解石（紅）的輕質元素光譜圖。
應用實例-電路板
由于AMS的場深度深，如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節。此外，由于激發X射線光子的入口和出口角度減小，光束能量依賴性變得不那么明顯。
圖：具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖
左圖: 標準多導毛細管聚焦在電路板上，元件的高點失焦，顯得模糊。
右圖: AMS系統加載下圖像顯示高景深，所有組件聚焦在更大的景深范圍內。
