Horiba X射線熒光分析儀是專門(mén)針對(duì)WEEE/RoHS /ELV法令，快速地測(cè)定電子部件中的有害元素的含量。它能對(duì)電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外，通過(guò)CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測(cè)試點(diǎn)，操作非常簡(jiǎn)單。

Horiba X射線熒光分析儀技術(shù)參數(shù)：
★   Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppm
★   使用1.2mm/3mm X射線導(dǎo)管技術(shù)（XGT）實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域的高靈敏度分析
★   采用大型試樣室（460X360X150㎜） 
★   試樣為塑料、金屬、紙、涂料、油漆等，并真正實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè)
★   可使用CCD照相機(jī)（50倍）試樣的位置 （業(yè)內(nèi)！X射線?光學(xué)同軸照射）
★   測(cè)定可一鍵實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單操作 
★   自動(dòng)元素干擾修正、厚度補(bǔ)償
★   數(shù)據(jù)輸出到EXCEL并可依據(jù)管理值實(shí)現(xiàn)自動(dòng)判定功能