詳細信息
三豐表面粗糙度儀SV-3200
1.評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。
2. 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。
3.標配高分辨率的Z1軸檢出器,高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。
4.Z1軸的高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。
5. X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺,實現X軸方向移動的高精準定位。SV-3200系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性,延長使用壽命。
6.X軸的分辨力為0.05μm。
7.標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇,無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。
8.驅動裝置中的DAT功能可以輕松調整測量工件的水平。
9.表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。
10.通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了高別定位速度(X軸:大80mm/s,Z軸:大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。
規格:型號:SV-3200S4 SV-3200H4 SV-3200W4 SV-3200S8 SV-3200H8 SV-3200W8