高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產生等于或高于20 MHz的頻率。
優勢
• 強阻尼寬帶設計提供了的時間分辨率。
• 短波長可獲得的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。
• 可對材料進行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設置。
高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測法時，利用熔融石英延遲塊可進行缺陷評價、材料分析或厚度測量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。
我們備有頻率高達225 MHz的接觸式探頭。探頭性能取決于所用的脈沖發生器/接收器以及具體的應用。所有探頭的制造都以客戶提出的具體規格為基準。請聯系我們，商議您的具體應用。
高頻標準水浸外殼
• 熔融石英延遲塊。
• 聚焦單元使用一個高質量的光學研磨透鏡。
• F202適配器可固定被動UHF連接器和主動Microdot連接器。
• 將高頻率和小外殼設計的特點結合在一起。
• 熔融石英延遲塊。
• 聚焦單元使用一個高質量的光學研磨透鏡。
• F202適配器可固定被動UHF連接器和主動Microdot連接器。
• 將高頻率和小外殼設計的特點結合在一起。
高頻SU/RM水浸外殼
• 帶有高質量的光學研磨透鏡的熔融石英延遲塊可使聲束的校直及聚焦達到很高的精度。
• 不銹鋼外殼帶有一個被動平直UHF (SU)連接器和一個主動直角Microdot (RM) 連接器。
• 大外殼可使用較大的延遲塊，并減少延遲塊的回響和噪音。
• 帶有高質量的光學研磨透鏡的熔融石英延遲塊可使聲束的校直及聚焦達到很高的精度。
• 不銹鋼外殼帶有一個被動平直UHF (SU)連接器和一個主動直角Microdot (RM) 連接器。
• 大外殼可使用較大的延遲塊，并減少延遲塊的回響和噪音。
聚合物（PVDF）水浸式探頭
• 在不使用延遲塊或透鏡的情況下，提供匹配于水的阻抗。
• 不產生會在熔融石英延遲塊設計結構中出現的延遲塊回波。
• 寬帶性能。
• 不產生會在熔融石英延遲塊設計結構中出現的延遲塊回波。
• 寬帶性能。
注意：請使用您所選擇的標準聚焦長度替換表中的X.XX"。
由于聚合物探頭本身所具有的寬帶特性，它們的中心頻率可能會比探頭上標注的頻率低一些。
注意：聚合物探頭的中心頻率基于聚合物薄膜晶片上膜的厚度。探頭性能極大地取決于脈沖發生器和線纜的特性，因此，有效中心頻率可能會低于標稱值的15%～25%。
由于聚合物探頭本身所具有的寬帶特性，它們的中心頻率可能會比探頭上標注的頻率低一些。
注意：聚合物探頭的中心頻率基于聚合物薄膜晶片上膜的厚度。探頭性能極大地取決于脈沖發生器和線纜的特性，因此，有效中心頻率可能會低于標稱值的15%～25%。
