XRF貴金屬分析儀原理

由高能X射線激發原子電子層，使得原子核外電子發生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統測量這些能量和數量，從而計算元素含量。

主要組成部件

高壓-光管-探測器與前放-主放-DPP-控制模塊-通信模塊-顯示系統等

X射線應該分析儀結構方框圖 

XRF貴金屬分析儀優勢和特點

。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

。易于使用，一鍵操作，即可獲得克拉等級及組成成份的分析結果

。有助于識別鍍金樣件的創新型功能

。機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

。按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件的化學成份和克拉等級的精確結果

。使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書

。用戶通過攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶對測試信心

性能及配置：

分析范圍1ppm to 100 %

精度RSD≤0.05% Au≥90%

測試樣品的物理狀態固體、粉末、液體

感興趣元素貴金屬Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.

基本金屬Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.

儀器環境要求

環境溫度15° C~30° C

相對濕度35%一70%