無接觸少子壽命掃描儀-產品特點
■ 無接觸和無損傷測量
■ 自動測量，具有傳送系統，可進行連續測量
■ 快速測量，測試掃描速度達到2000mm/min
■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
■ 主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等
■ 性價比高，*程度地降低了企業的測試成本
無接觸少子壽命掃描儀-*工作條件
■ 溫度：18-26℃
■ 濕度：10%~80%
■ 大氣壓：750±30毫米汞柱 
-技術指標
■ 少子壽命測試范圍:0.5μs-300μs
■ 測試掃描速度:2000mm/min
■ 測試尺寸:215mm*215mm*400mm
■ 電阻率范圍：
P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）
N型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）
■ 激光波長：980±30nm,測試功率范圍：50-500mw
■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
■ 儀器測試精度：±3.5％，信號處理偏差≤2％
■ 工作頻率：10GHz±0.5
■ 微波測試單元功率：0.01W±10%
■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜200W
■ 主機尺寸：365mm * 645mm *565mm
■ 主機重量：30KG
北京合能陽光新能源技術有限公司是一家硅材料檢驗儀器及服務提供商，提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗設備及*解決方案。同時，拉單晶生產所需的輔料也是我公司主營范圍之一
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無接觸少子壽命掃描儀 產品信息
