XP1型偏光顯微鏡
二手閑置,配件齊全,數量有限,售完即止。
用途:
XP1型透射偏光顯微鏡,主要用于巖石的薄片檢定。利用偏振光研究均勻介質的強弱和各種差異,以鑒定地質礦物含量。本儀器廣泛用于地質研究部門和有關院校和實驗室,也用于紡織業,對纖維進行檢驗。
結構:
1、物鏡轉換器采用外定位可調式。
2、目鏡采用大視場平鏡目鏡,成像清晰。
3、照明系統采用非球面,增加了亮度。
4、轉臺采用滾動式,舒適,輕巧。
5、檢偏鏡可轉180度,配以可調補償器,可定量檢定。
6、調焦系統采用粗微調合同付滑板,滑板采用雙圓弧滾動導軌,受力后穩定可靠。
7、組合式結構,可以方便地增加附件,使它有可能變為多功能的顯微鏡;配以適當附件,可進行明視場觀察、暗視場觀察、熒光觀察、相襯觀察、顯微攝影。
注:產品照片為實物拍攝,供參考;本公司保留對產品進行改進提高的權利,屆時恕不另行通知客戶;本產品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準。包裝箱為定制實木結構,故在安全性上有保障,但相應重量及運費要高些,請各位理解。