梅特勒-托利多創新的微量和超微量天平XP/XS設立了高效稱量、用戶友好的操作界面和高質量的新標準。這些微量天平可以提供現有分析天平具有的Z高分辨率：高達的52,000,000位。明亮的觸摸顯示屏、智能化用戶操作指導以及無需用手接觸的紅外防風罩控制功能使得該系列高精度天平稱量更快速、操作更簡便、更有趣味。