DiaInspect-OSM 金剛石形態分析檢測系統

DiaInspect OSM是一種數字顯微鏡，用于工業金剛石和其他磨料的尺寸和形狀分析。這種高分辨率的電動顯微鏡適用于從微米到鋸片粒度的各種粒度。

主要特點：

●每個參數的直方圖，每個參數組合的散點圖

●所有參數組合示意圖

●虛擬排序（2D和3D）

●具有多聚焦功能的深聚焦圖像

●孔隙度掃描模塊

●曲面和3D三維掃描模式

●一鍵式報告生成

●一鍵式數據傳輸至EXCEL結果表

●真實粒子、圖像和被測參數之間的交互連接

DiaInspect OSM是一種自動控制顯微鏡，專門用于磨料和工具的尺寸、形狀和分段分析。它涵蓋了從微米到粗砂的整個粒度范圍。

操作原理：

一定數量的顆粒必須分散到玻璃板上。當檢查粒徑為幾微米的顆粒時，建議濕敷粉末。玻璃板通過XY臺在掃描運動中移動。陣列大小將根據實際放大級別自動選擇。圖像采集部分從玻璃板的每個部分獲取并分析連續圖像，因此可以以高圖像分辨率檢測大量單個粒子。

技術數據：

電源：110-230伏交流電。

測量范圍

粒度：1µm…3mm

掃描范圍：76 x 52毫米（XY-stage）

處理時間：約15分鐘（制備和測試2000個粒度為50µm的顆粒）

系統要求：

PC Windows 7 x64或Windows 8 x64

所需：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0

CPU核心數：>=2

CPU時鐘：>=2GHZ

內存：8GB

監視器：2x>=22英寸（>=1680x1050）

計算參數：

每個粒子計算了20多個參數

• 最小feret直徑
• feret直徑
• 圓當量粒徑
• 總面積
• 周長
• 凸周長
• 慣性矩
• 費雷特伸長
• 密實度
• 粗糙度
• 橢圓度
• “透明”顯示區域的百分比
• “透明”顯示區域的相對亮度
• CIE L*a*b系統中的顏色坐標

硬件：

該系統的主要部分是5級放大的專業顯微鏡、數控照明裝置和高品質的數字工業攝像機。顯微鏡配有電機驅動的Z軸和電機驅動的X軸和Y軸機械分級設備。所有軸由操縱桿或直接由控制程序控制。攝像機通過USB3連接到圖像采集系統，采集系統可以通過軟件進行圖像處理。

軟件：

系統操作由一個易于操作的程序界面控制，該界面在普通PC機上運行。

報告：

控制程序生成打印報告，其中包含每個參數的統計結果以及直方圖和密度圖。對于采集數據的科學工作，傳遞函數會將所有粒子的每個數字復制到EXCEL工作簿中。

特色：

控制程序顯示一個數據網格，其中一行包含單個粒子的參數。只需單擊任意一行，所述粒子的圖片就會顯示在顯示器上。因此，粒子圖像和數字之間的相關性更容易理解，這些數字在數字上描述了粒子的外觀。

一個特殊的附加組件是虛擬分揀設備。它允許對檢查的粒子應用虛擬排序過程：排序范圍可以通過上述兩個參數的隨機數組。密度圖顯示了粒子沿選定參數的分布。在哪個框中，程序必須將粒子放置在密度圖的某個區域內，只需拖動鼠標即可。在“排序”之后，程序會顯示每個框中的粒子數量，并為每個框生成一張圖片，顯示現在在框中的粒子。