DiaInspect-ISE表面交互式磨損分析系統(tǒng)
刀具表面磨損分析測量儀
DiaInspect-ISE是一個工具表面交互式磨損分析系統(tǒng)。（例如燒結(jié)段或鋸珠）該系統(tǒng)使用光學(xué)掃描顯微鏡的硬件。
主要特點(diǎn)：
●可自由選擇的磨損分類
●自動存儲每個粒子的真實(shí)坐標(biāo)（例如燒結(jié)段或鋸條）。。
●真實(shí)粒子、圖像和被測參數(shù)之間的交互連接
●高放大圖像的存儲
●具有多聚焦功能的深聚焦圖像
●曲面和三維掃描模式
●突出高度的簡易測量
●EXCEL結(jié)果表
DiaInspect ISE是一個用于交互評估刀具表面磨損的系統(tǒng)。它基于光學(xué)掃描顯微鏡DiaInspect.OSM的硬件。它非常適合分析分段或線鋸珠的磨損表面。
硬件：
該系統(tǒng)基于具有5個放大步驟的特殊顯微鏡、四個數(shù)字控制LED光源和高質(zhì)量數(shù)字工業(yè)攝像機(jī)。該顯微鏡配備有電機(jī)驅(qū)動的聚焦和電機(jī)驅(qū)動的XY-臺。可連接旋轉(zhuǎn)軸檢查珠子。所有軸均由操縱桿控制或直接通過控制程序。攝像頭通過USB3連接到PC和圖像處理軟件。
軟件：
軟件分兩步指導(dǎo)用戶分析刀具表面。在步中，創(chuàng)建刀段或焊道表面的概覽圖像。在第二步中，用戶在概覽中定位磨粒
圖像，以更高的放大倍數(shù)顯示，用于交互式分類。EXCEL格式的數(shù)據(jù)庫存儲研磨點(diǎn)的坐標(biāo)和分類。
操作原則：
DiaInspect.ISE有效地支持工具表面上所有研磨點(diǎn)的位置和磨損階段的交互式收集。概覽圖像用于查找顆粒，然后通過顯微鏡的電機(jī)自動定位在相機(jī)圖像中。可以高分辨率和高分辨率檢查研磨點(diǎn)高聚焦深度。該程序用彩色邊框標(biāo)記已檢查的研磨點(diǎn)。
特色：
- 可定義的磨損分類
- 保存研磨點(diǎn)的坐標(biāo)
- 高倍率圖像可能與研磨點(diǎn)有關(guān)
- 堆疊的焦點(diǎn)圖像可以與研磨點(diǎn)相關(guān)聯(lián)
- 突出高度測量
- EXCEL結(jié)果文件
技術(shù)數(shù)據(jù)：
電源：110-230伏交流電。
系統(tǒng)要求：
PC Windows 7 x64或Windows 8 x64
所需資源：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0
CPU-CORES：>=2
CPU-CLOCK：>=2GHZ
內(nèi)存：8GB
監(jiān)視器：2x>=22英寸（>=1680x1050）
機(jī)械參數(shù)：
焦距：20毫米
X行程：76毫米
Y行程：50毫米
旋轉(zhuǎn)：360°
特殊功能：
帶有三軸操縱桿的靈敏運(yùn)動控制
操縱手柄X軸到X驅(qū)動或旋轉(zhuǎn)的自動布線
駕駛?cè)Q于操作模式（分段或胎圈）
易于安裝的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動裝置，帶有磁珠支架
靈活的數(shù)字控制照明：
-用于宏觀光學(xué)的環(huán)形光
-所有鏡頭的背光
-機(jī)頭透鏡的同軸照明
-偽暗場照明
測量功能：
-圖像中的線條長度
-圖像中兩條線之間的角度
-兩個焦點(diǎn)位置之間的高度差
-圖像外兩點(diǎn)之間的距離限制成像功能：
-將實(shí)際相機(jī)圖像保存為JPG、BMP、TIF
-保存多焦點(diǎn)圖像（曲面、高度貼圖、組合視圖）
-在圖像中自動插入標(biāo)尺
