性能指標
銠耙材X射線管,電壓分為15和50kV兩個階段,電流100μA。 恒溫制冷硅漂移FAST SDD探測器,具有高分辨率和高計數率,檢測迅捷生成。 檢測元素范圍Mg-U,檢測濃度范圍:1ppm - 99.99%。 具有局部分析性能,實現可視化及測量點的準確定位。
主要應用
手持式X射線熒光光譜儀具有非破壞性、快速、直覺式操作及結果呈現、定性半定量準確等優點。 其廣泛應用于鋼鐵及航空航天合金、礦山礦石、金及貴金屬、土壤、ROHS等材料中的化學元素成分快速分析。
樣品要求
對樣品的幾何形狀、大小無要求,但樣品有足夠的代表性。并且樣品在X射線照射下應該穩定、不變形、不引起化學變化。
儀器說明
- 分析元素范圍其測試下限可以達到1ppm,因樣品不同而指標有所不同。
- 同時分析37種元素能力,包括輕元素如Mg、Al和Si的分析,測試時間最長為30秒。
- 具有以下標準曲線:標準合金(牌號鑒定)、輕元素合金、受限材料(電子合金+塑料)、貴金屬輕元素、礦物輕元素(采礦及礦石)、土壤輕元素、石灰巖等。