性能指標(biāo)
二次電子像分辨率
- 高加速：0.8 nm@15.0 kV (GB)
- 低加速：1.2 nm@1.0 kV (GB)
- 極低加速：3.0 nm@0.1 kV (GB)
- 分析：3.0 nm@15 kV, 5 nA, WD 10 mm，
- WD: 2.0 ～ 25.0 mm (LDF模式時(shí)可達(dá)41mm)
主要應(yīng)用
該電鏡及其附件主要用于各種材料的最細(xì)微納米結(jié)構(gòu)的觀察，能夠在低電壓下為高磁性樣品成像和分析，GB和GBSH模式可減少非導(dǎo)電樣品上的電荷，減少對(duì)高分辨成像的鏡頭像差影響，得到不導(dǎo)電樣品的高分辨圖像。
樣品要求
- 樣品直徑＜32mm，高度＜20mm。
- 不接受粉末樣品。
- 可接金屬塊體，薄膜等固體樣品。
儀器說明
JSM-7800F具有浸沒式肖特基電子槍；超級(jí)混合式物鏡 : SHL；用新型探測(cè)器過濾電子能量。
