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廣電計量檢測集團股份有限公司

EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS(光子計數探測器

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京優納珂科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地國外
  • 廠商性質代理商
  • 更新時間2022/7/7 15:50:22
  • 訪問次數227
產品標簽:

光子計數探測器

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北京優納珂科技有限公司是德國Mar公司、德國STOE公司、英國牛津OxfordCryosystems公司在ZG的駐華銷售辦事處及售后服務ZX,同時也是瑞士DECTRIS公司在ZG的主要合作伙伴,包括ZG同步輻射領域的代理,專業從事X-射線散射及衍射結構分析類儀器及相關配件、耗材在國內推廣、銷售及研發與生產,我們經過不懈努力向客戶提供全集成的,高附加值的全領域解決方案。

我公司目前的主要產品為X-射線散射及衍射專業領域的所有應用產品,主要包括生物大分子、小分子及高壓全套單晶衍射儀(XRD)、粉晶衍射儀(XRD),小角廣角X射線散射儀(SAXS/WAXS)、X射線成像,及配套的高低溫設備,高壓設備,拉伸裝置,X-光強度測試儀,各種配套用測角儀和樣品臺,ZX性能的探測器等全系列X射線結構分析類產品。
儀器設備的應用覆蓋從基礎研究到工業質量控制的材料性能表征,涉及元素分析,材料研究,結構分析等等, 我們通過提供高精密度,高分辨率的儀器設備來保證包括化學,化工,冶金、石油,材料,制藥,半導體,生命科學,納米技術的企業客戶和學術研究單位對單晶及粉晶的結構分析及各類材料的小角廣角散射分析及創新型的科研需要。
- 對新型化合物、 催化劑、 醫藥, 天然產物,蛋白質,核酸等需明確表征分子的三維(3D)原子 結構的結構分析等
- 無機晶相,有機晶相,多功能材料等的物相定性、定量分析,礦物的X射線定性、定量分析等
- 納米結構分析(形狀、尺寸和內部結構),分散穩定性,顆粒成核現象,孔隙度(比表面),結晶度和取向,溶液中的生物大分子(Bio-SAXS),納米結構表面 (GISAXS)等。
我公司以提供YL的誠信、質量、效率為追求目標,以*為依托,本著“信譽DY、客戶至上”的原則,提供專業的產品、 技術服務與支持,滿足客戶日益復雜化和多樣化的需求。
歡迎來電來函咨詢有關業務。我們將以飽滿熱忱的服務讓您滿意!





X射線衍射儀
DECTRIS 0
EIGER2 XE CdTe探測器系統使終端線站能夠達到X射線研究的新高峰。為了充分利用*的新型同步輻射光源在更高能量下不斷增加的光子通量,DECTRIS(德科特思) 將 EIGER2 XE CdTe 探測器系列提升到了新的極限。EIGER2 XE CdTe 9M和16M不僅提供超高的107次/秒/像素的計數率能力和第二個能量識別閾值,而且幀率也被提高到500赫茲以上。
EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS(光子計數探測器 產品信息

1.EIGER 2 XE CdTe 

EIGER2 XE CdTe探測器系統使終端線站能夠達到X射線研究的新高峰。為了充分利用*的新型同步輻射光源在更高能量下不斷增加的光子通量,DECTRIS(德科特思) 將 EIGER2 XE CdTe 探測器系列提升到了新的極限。EIGER2 XE CdTe 9M和16M不僅提供超高的107次/秒/像素的計數率能力和第二個能量識別閾值,而且幀率也被提高到500赫茲以上。使用 EIGER2 XE CdTe 探測器實現您極有潛力的項目,并為未來做好準備。


2.EIGER2 X CdTe 

EIGER2 X CdTe 探測器適用于需要在高能量下獲得超高分辨率和幀速率的科學家。您現在可以以75μm 的單像素級空間分辨率檢測能量高達100keV的光子。由于無死區時間讀數,您不會在幀之間丟失光子。第二個能量區分閾值允許您在兩個能量箱中對樣品進行成像或削減高次諧波,以減少背景噪音。以107光子/秒/像素的超高計數率能力準備您的未來光束實驗站。

EIGER2 X CdTe探測器將超高性能與易于集成和操作結合在一起。


3.核心優勢

– 直接探測X射線,使得無圖像延遲或余輝。

chatu.png

– 計數速率高達107光子/秒/像素,符合第四代同步輻射光源的計數率。

– 雙能量閾值抑制噪音,提供高質量的數據。

– 在*幀速率下使用電子門控觸發技術實現快速可靠的探測。

– 多種傳感器尺寸以實現多角度覆蓋。


4.應用領域

–x射線衍射(單晶和粉末) (文章:歐洲光源ESRF的應用實例)

–現場和原位技術

–衍射顯微鏡和層析成像

–漫散射和對分布函數

–勞厄衍射

–大分子晶體學(MX)

–高壓研究 (視頻: APS 的高壓 XRD 研究)


5.技術規格



EIGER2 X CdTeEIGER2 XE CdTe 

型號

500K

1M

4M

9M

16M

9M

16M

有效面積:寬x高 [mm2]

77.1 x 38.4

77.1 X 79.7

155.1 x 162.2

233.1 x 244.7

311.1 x 327.2

233.1 x 244.7

311.1 x 327.2

像素大小 [μm2]

75 x 75

總像素數量

1028x512

1028x1062

2068 x 2162

3108 x 3262

4148 x 4362

3108 x 3262

4148 x 4362

間隙寬度, 水平/垂直(像素)

-/-

-/38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

12 / 38

大幀頻* [Hz]

2000

2000

500

230

130

550

550

計數器深度 [ bit ]

16

16

16

16

16

16

16

讀出時間

連續讀數

點擴散函數

1 pixel

傳感器材料

CdTe

傳感器厚度 [μm]

750

能量范圍 [keV]

8-100

計數率 [ph/s/pixel]

107

尺寸(WHD)[mm3]

114 x 92 x 242

114 x 133 x 242

235 x 237 x 372

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

重量 [kg]

3.7

4.7

15

41

55

41

55

冷卻方式

水冷(模塊)/風冷(電子學)

水冷(模塊)/風冷(電子學)

水冷(模塊)/風冷(電子學)

水冷(模塊)/風冷(電子學)

水冷(模塊)/風冷(電子學)

水冷(模塊)/風冷(電子學)

水冷(模塊)/風冷(電子學)

**所有規格如有更改,恕不另行通知。


北京優納珂科技有限公司為您提供EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS(德科特思)光子計數探測器的參數、價格、型號、原理等信息,EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS(德科特思)光子計數探測器產地為瑞士、品牌為德科特思,型號為EIGER2 X/XE CdTe,價格為面議,更多相關信息可電話咨詢,公司客服電話7*24小時為您服務!


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