1.EIGER2 R CdTe: 高能量 HPC 技術的全面優勢
EIGER2 R CdTe-X射線探測器將混合光子計數 (HPC) 技術的新一代研發成果和碲化鎘感光器件的高量子效率集合在一起。因此,在使用高能量X射線源或需要雙波長設置時,EIGER2 R CdTe-X射線探測器便會是您實驗室的上佳選擇。作為德科特思(DECTRIS) 公司的高超技術即時觸發技術帶來了完善的高計數率能力,以便更精確地測量實驗室X射線源所能達到的高強度。EIGER2 R CdTe-X射線探測器配有兩個能量鑒別閾值,與上一代相比,在環境背景下具有更低的暗計數。這極大地提高了弱信號和長時間曝光的信噪比,能夠在更短的測量時間內提供更優質的數據質量。單光子計數與連續讀/寫數技術相結合,克服了所有積分探測器容易飽和以及動態范圍有限的問題。除此之外,直接探測計數配合 75μm 的小像素尺寸使得探測器具有更高的空間和角度分辨率。
2.核心優勢
– 由于零背景噪音,出色的計數率和同時讀寫,所以具有很高的動態范圍
– 直接檢測和小像素尺寸以獲得光斑分離和最小背景重疊
– 雙能識別有助于抑制低能量和高能量的背景
– 由于直接檢測 X 射線,沒有圖像滯后和余輝
3.應用領域
– 大分子晶體學(MX)
– 化學晶體學
– 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/
WAXS)
– μCT
4、技術規格:
型號 | EIGER2 R CdTe 500K | EIGER2 R CdTe 1M | EIGER2 R CdTe 4M | EIGER2 R CdTe 2M-W | EIGER2 XE CdTe 1M-W |
有效面積:寬x高 [mm2] | 77.1 X 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 x 162.2 | 311.1 x 38.4 | 155.1 x 38.4 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
總像素數量 | 1028x512 | 1028 x 1062 | 2068 x 2162 | 4148 x 512 | 2068 x 512 |
幀頻* [Hz] | 100 | 100 | 20 | 50 | 100 |
計數器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
讀出時間 | 連續讀數 | ||||
點擴散函數 | 1 pixel | ||||
傳感器材料 | CdTe | ||||
傳感器厚度 [μm] | 750 | ||||
能量范圍 [keV] | 8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration) | ||||
計數率 [ph/s/pixel] | 5.5 x 106 | ||||
尺寸(WHD)[mm3] | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 9.7 | 5.8 |
冷卻方式 | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) |
**所有規格如有更改,恕不另行通知。