合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM)，是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.5μs到300μs,P型電阻率量程為0.8-100Ω.cm,N型電阻率量程為0.5-100Ω.cm，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)的測量儀器。
產(chǎn)品特點:
■ 無接觸和無損傷測量
■ 可移動掃描頭，便于測量
■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
■ 主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價比高，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本
■ 質(zhì)保期：1年
推薦工作條件:
■ 溫度：15-30℃
■ 濕度：10%~80%
■ 大氣壓：750±30毫米汞柱
技術指標:
■ 少子壽命測試范圍:0.5μs-300μs
■ 測試尺寸:尺寸不限
■ 測試時間：1-30s(具體和信號質(zhì)量及測試精度有關)
■ 電阻率范圍：P型：0.8Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）
n型：0.5Ω.cm-100Ω.cm（范圍之外可測量，但將有一定測試偏差）
■ 激光波長：980±30nm,測試功率范圍：50-500mw,脈沖寬度調(diào)節(jié)范圍：0.5-60μs
■ 工作頻率： 10GHz±0.5
■ 儀器測試精度：±3.5％
■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜30W
■ 微波測試單元功率：0.01W±10%
■ 掃描頭尺寸：290mm *200mm *65mm, 電器控制單元: 210mm*220mm*60mm
■ 掃描頭重量：3KG，電器控制單元：1kg
典型用戶:
河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶
北京合能陽光新能源技術有限公司（以下簡稱“合能陽光”）總部位于北京通州工業(yè)開發(fā)區(qū)，公司主導產(chǎn)品涉及半導體及光伏行業(yè)的檢測儀器、工藝和耗材領域，是集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務及對外投資于一體的綜合性高科技公司。
公司所服務的客戶來自于國內(nèi)企業(yè)，如賽維LDK、保利協(xié)鑫、比亞迪、中電集團、億晶光電、旭陽雷迪、錦州陽光、Ferro申和熱磁、國泰半導體、晶鑫科技、湖北晶星、大全新能源、新疆新能源、晶龍集團、Pro-Q、光為、國電集團、京運通、七星華創(chuàng)、新天源、超日、*、中國表面物理與化學研究、成都光電、包頭山晟……等幾百家半導體和太陽能單位。
公司現(xiàn)有員工34人，大專本科以上學歷25人，研究生６人，博士１人，建筑面積3000m２。
近年來，公司的海外市場發(fā)展勢頭良好，產(chǎn)品出口到美國、歐洲、韓國、新加坡等國家地區(qū)，目前公司在和海外同行建立產(chǎn)品加工合作關系的同時還建立自己的代理商和銷售中心。
檢測儀器和產(chǎn)業(yè)耗材
無接觸少子壽命測試儀：HS-SIM 產(chǎn)品信息
關鍵詞：電池
