透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，如本頁面您未找到需要的產(chǎn)品，請直接聯(lián)系客服
透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
性能指標(biāo)
透射電子顯微鏡指標(biāo)：
● 兼容型號電鏡及極靴；
● 單傾可選高傾角版本；
● 可選雙傾版本，β角傾轉(zhuǎn)±25°（同時(shí)受限于極靴）；
● 測量電極數(shù)可選。
電學(xué)測量指標(biāo)：
● 包含一個(gè)電流電壓測試單元；
● 電壓輸出Z大±200 V，Z小±100 nV；
● 電流測量Z大±1.5 A，Z小100 fA；
● 恒壓或者恒流模式；
● 自動(dòng)電流-電壓（I-V）測量、電流-時(shí)間（I-t）測量，自動(dòng)保存。
低溫指標(biāo)：
● 兼容MEMS加熱及電學(xué)芯片；
● 全溫區(qū)測量，溫度范圍：85 K- 380 K；
● 控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1 K；
● 溫度連續(xù)可控。
以上就是提供的透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，關(guān)于價(jià)格直接咨詢。
溫馨提示：如本頁面您未找到需要的產(chǎn)品，詳細(xì)：
掃描電子顯微產(chǎn)品推薦
