徠卡精研一體機(jī)
LEICA EM TXP 是一款可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精.確定位的表面處理工具，特別適合于SEM, TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對(duì)目標(biāo)精細(xì)定位或需對(duì)肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了Leica EMTXP,這些工作就可輕松完成。
在Leica EM TXP之前，針對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行定點(diǎn)切割，研磨或拋光等通常是一項(xiàng)耗時(shí)耗力，很困難的工作，因?yàn)槟繕?biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小而難以處理。使用LeicaEMTXP，此類樣品都可被輕易處理完成。
另外，借助其多功能的特點(diǎn)，Leica EM TXP也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*效的前制樣工具。
徠卡精研一體機(jī)
與觀察體系合為一體
看清細(xì)節(jié)
為微尺度制樣而生
在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過(guò)程和目標(biāo)區(qū)城
將樣品固定在樣品懸臂上，在樣品處理過(guò)程中，通過(guò)立體
顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，
或者調(diào)至-30°，則可通過(guò)目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測(cè)量。Leica EM
TXP還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得jia視覺觀
察效果。
★★★ 對(duì)微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精.確定位和樣品制備
★★★ 通過(guò)立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察
★★★ 多功能化機(jī)械處理
★★★ 自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制
★★★ 可獲得平如鏡面的拋光效果
★★★ LED環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選
多種方式制備處理樣品
樣品無(wú)需轉(zhuǎn)移，只需切換工具
不需要來(lái)回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡(jiǎn)單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過(guò)程，并且樣品處理全過(guò)程都可通過(guò)顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸灰粋€(gè)透明的安全罩，可避免在樣品處理過(guò)程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。
LEICA EM TXP 可對(duì)樣品進(jìn)行以下處理：
★★★ 銑削
★★★ 切割
★★★ 研磨
★★★ 拋光
★★★ 沖鉆
自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制
讓徠卡EMTXP來(lái)工作 MEM TXP的自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制機(jī)制，可以幫助您從常規(guī)繁重的樣品制備工作中解脫出來(lái):
★★★ 帶有自動(dòng)化E-W運(yùn)動(dòng)控制機(jī)制
★★★ 帶有自動(dòng)化應(yīng)力反饋機(jī)制
★★★ 帶有自動(dòng)化進(jìn)程或時(shí)間倒計(jì)數(shù)功能
★★★ 帶有應(yīng)力反饋控制的空心鉆自動(dòng)前進(jìn)
★★★ 帶有潤(rùn)滑冷卻劑自動(dòng)注液和液面監(jiān)控機(jī)制
精.確的目標(biāo)定位
★★★ 在顯微鏡輔助觀察下，通過(guò)精密移動(dòng)工具來(lái)幫助你實(shí)現(xiàn)
★★★ 如移動(dòng)鋸片到接近目標(biāo)位置進(jìn)行切割;然后不用取下樣品，直接將鋸片更換成研磨片對(duì)目標(biāo)位置進(jìn)行快速研磨;當(dāng)快接近目標(biāo)位置，可以采用Count down倒計(jì)數(shù)功能，自動(dòng)研磨厚度(2 um)，或后采用Count down倒計(jì)時(shí)功能，自動(dòng)拋光
★★★ 得益于精密機(jī)械控制部件，樣品加工工具步進(jìn)精度小可達(dá)0.5um
精.確的角度校準(zhǔn)
★★★ 在顯微鏡輔助觀察下，通過(guò)角度校準(zhǔn)適配器幫助你實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品角度的微調(diào)
★★★ 角度校準(zhǔn)適配器固定在樣品夾具和樣品懸臂之間，可以實(shí)現(xiàn)水平方向和垂直方向分別士5°角度微調(diào)
