| 儀器名稱： | 場發射超高分辨率掃描電鏡(FESEM） | 型號： | SEM（Tescan mira3 Zeiss sigma500） EDS（OxfordX-MAX） |
| 檢測項目： | 表面形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可）， EDS能譜（點掃、線掃、面掃），elements Mapping，EBSD | ||
| 應用范圍： | 固體樣品的微觀形貌、結構，樣品的微區元素成分、線分布、面分布，廣泛應用于納米技術、材料、物理、化學、環境科學等領域。 塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。 適合導電性不佳的樣品形貌觀察。 | ||
| 制樣要求： | 樣品尺寸要求：塊狀樣和生物樣，直徑小于26mm，高度小于15mm（樣品中不得含有水分） 粉末樣>0.02g 生物樣品需要提前制好樣，否則不予測試。 | ||
PS：送樣請附帶“委托測試單”。SEM測試要求模板（附件)
測試提示：
1.可開正規測試發票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷，測試后會對樣品產生哪些變化；
3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通，出現測試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據；請加和技術人員交流：。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規的樣品，一經發現將追究其法律責任。
