MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀
產品特點
輕松讀取：可存入測量數據600個，對測量中的單個可疑數據進行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據，讀出已存入的測量數據。
1、測量范圍：
MC-2000 A 型測量范圍：0-1500um
MC-2000 C 型測量范圍：0-5000um
MC-2000 D 型測量范圍：10-9000um
可訂做管道內涂（鍍）層測頭，30mm管徑以上
MC-2000C涂層測厚儀管道測厚儀
MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭
產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。
2、測量誤差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、顯示方式： 4位液晶數字顯示
二、MC-2000C涂層測厚儀產品性能
1、測量范圍： 0～5000um
2、測量誤差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、顯示方式： 4位液晶數字顯示
5、主要功能：
(1).測量： 單探頭全量程測厚
(2).存儲、刪除： 可存入測量數據600個，對測量中的單個可疑數據進行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據。
(3).讀： 讀出已存入的測量數據
(4).統計： 設有三個統計量，平均值zui大值zui小值
(5).校準： 可進行系統校準
(6).電量： 具有欠壓顯示功能
(7).打印： 可打印測量值，選配微型打印機
(8).關機： 具有自動關機和手動關機兩種方法
6、電源： 兩節1.5v電池
7、功耗： zui大功耗100mw
8、外形盡寸： 51mm*126mm*27mm
9、重量： 160g（含電池）
10、使用環境溫度： 0℃～+40℃ 相對濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑： 7mm
13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示： 右上角顯示＂＂
*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時,其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度
高精度涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 ◆磁性法(f型測頭)：當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。 ◆渦流法(n型測頭)：利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
高精度涂層測厚儀（多用型）是一種多功能實用型便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業*的儀器。
的使用方法
使用涂層測厚儀時應當遵守的規定：
a基體金屬特性對于磁性方法，規范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，規范片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
c邊緣效應不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
d曲率不應在試件的彎曲外表上測量。
e讀數次數通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必需在每一測量面積內取幾個讀數。
覆蓋層厚度的局部差別，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，外表粗造時更應如此。
f外表清潔度丈量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
