Sphere-3000光學元件反射率測量儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量，還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
儀器特點：
- CIE顏色測定 X Y色度圖，x，y，L,a,b，飽和度，主波長等；
- 顯微測定微小區域的反射率，物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）；
- 消除背面反射光，無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率；
技術參數：
| Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） | Sphere-3000-NIR | |
|---|---|---|---|
| 探測器 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷) | Hamamatsu InGaAs探測器(制冷) |
| 檢測范圍 | 380~1100nm | 380~1100nm | 900~1700nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm | 3nm |
| 信噪比 | 450:1 | 1000:1 | 10000:1 |
| 相對檢測誤差 | ＜0.75% | ＜0.5% | ＜0.5% |
| 被測物再現性 | ±0.1%以下(380nm~410nm) ±0.05%以下(410nm~900nm) | ±0.1%以下(380nm~400nm) ±0.05%以下(400nm~900nm) | ±0.1%以下 （1000~1650nm） |
| 測定方法 | 與標準物比較測定 | ||
| 單次測量時間 | ＜1s | ||
| 精度 | 0.3nm | ||
| 被測物N.A | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) | ||
| 被測物尺寸 | 直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)厚度>0.1mm(使用50×對物鏡時) | ||
| 被測物測定范圍 | 約φ100um(使用10×對物鏡時) 約φ60um(使用20×對物鏡時) 約φ30um(使用50×對物鏡時) | ||
| 設備重量 | 約22kg（光源外置） | ||
| 設備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
| 使用環境 | 水平且無振動的場所；溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露； | ||
| 操作系統 | Windows7~Windows10 | ||
| 軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定 | ||
