日本yokogawa光譜分析儀AQ6374
波長范圍：350-1750nm
波長分辨率設置：0.05-10nm
寬電平范圍：+20 至 -80dBm
波長精度：± 0.05 nm
電平靈敏度：-80 dBm
動態范圍：60 分貝
波長采樣數：100001點
用于校準/波長校準的內置光源
吹掃機制
日本yokogawa光譜分析儀AQ6374
光學性能
波長范圍：350-1750nm
一個單元涵蓋從可見光到光通信波長的寬波長范圍。
它可用于評估各種設備。
波長分辨率設置：0.05-10nm
可用于DFB-LD和VCSEL的發射光譜測量以及光纖的波長損耗特性等廣泛的應用。
寬測量電平范圍：+20 至 -80dBm
從高功率信號測量到弱光測量，您可以根據應用和測量速度等條件從 7 個級別中選擇合適的測量靈敏度設置。
可用空間輸入
不僅可以使用單模光纖和多模光纖，還可以使用800μm大直徑光纖。
吹掃機制
在 1380 nm 附近的波長范圍內，由于水蒸氣的影響，觀察到強烈的光吸收，這可能會干擾測量。
AQ6374通過從背面的供氣口/排氣口向單色器內部連續供給氮氣等吹掃氣體，可以降低水蒸氣光吸收對測量的影響。
內置高階衍射光截止濾光片
根據測量波段自動設置用于去除不必要的階次重疊的濾光片。
出色的測量吞吐量
高速光譜測量
采用先進的單色器技術、高速電路、新創的降噪技術，實現高速光譜測量。
對于測量激光和弱信號等急劇上升的光譜非常有用。
波長樣本數：100001
將波長樣本數加倍。您可以同時測量更寬的波長范圍，同時保持高分辨率。
解決了數據點數量不足導致波長分辨率顯著下降、波長范圍劃分測量效率低下等問題，使測量更加準確、高效。
