梅特勒XP系列分析天平的詳細介紹
梅特勒 XP系列分析天平性能特點
梅特勒 XP系列分析天平主要特點:采用分離的稱量單元和顯示控制單元,避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
●XP系列分析天平
●XP系列分析天平天平校驗功能(BalanceCheck),自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平,確保稱量結果始終準確
●GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保XP系列分析天平始終正確工作
●優化XP系列分析天平適應性的稱量參數設置,滿足不同稱量環境要求
●XP系列分析天平*可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計,實現天平的快速清潔
●XP系列分析天平豐富的內置稱量應用程序:基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量
水平控制系統(LevelControl):XP系列分析天平在使用過程中或移動后偏離水平位置影響到稱量結果的準確性時,水平控制系統會發出聲音警告,并顯示調整信息,準確地指導您調節分析天平恢復至水平位置。
紅外感應器(SmartSens):實現無需用手接觸的分析天平操作:開關門、去皮、回零、打印。即使稱量毒性或腐蝕性樣品,您也一樣安全無憂!
專業級全自動校準技術(proFACT):XP系列分析天平實現溫度漂移和用戶時間設置觸發的全自動內置砝碼校正和線性校正。
梅特勒 XP系列分析天平技術參數
XP分析天平型號 | 稱量值 [g] | 可讀性 [mg] | 重復性 (sd)[mg] | 線性誤差 [mg] | 典型穩定時間 [s] | 秤盤尺寸 (W×D)[mm] |
XP105DR | 31/120 | 0.01/0.1 | 0.0015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78×73 |
XP205DR | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.0015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
XP204 | 220 | 0.1 | 0.007 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78×73 |
XP504DR | 101/520 | 0.1/1 | 0.1/0.6 | 0.5 | 1.5 | 78×73 |
DR=變量程;sd=標準偏差