掃描電化學顯微系統（SECM）

交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）

間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）

微區電化學阻抗測試系統(LEIS)

掃描振動點擊測試系統（SVET）

電解液微滴掃描系統（SDS）

交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）

掃描開爾文探針測試系統（SKP）

非觸式微區形貌測試系統（OSP）

出色的性能

快速精準的閉環定位系統為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan *的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的配置

*和靈活的工作平臺

系統可提供9種探針技術，使得M470成為靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。

全面的附件

7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。

M470新產品特征

SECM自動處理曲線

SECM用戶自定義處理曲線步長變化

高分辨率讀取

手動或自動調節相位

M470同時具備如下特點：

傾斜校正

X或Y曲線相減（5階多項式）

2D或3D快速傅里葉變化

實驗，探針移動和區域繪圖的自動排序

圖形實驗測序引擎（GESE）

支持多區域掃描

所有實驗多個數據視圖

峰值分析

M470是由Uniscan儀器開發的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術。

M470技術參數

工作站（所有技術）

掃描范圍（x,y,z）             大于100mm

掃描驅動分辨率                 0.1nm

閉環定位                          線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移

軸分辨率（x,y,z）             20nm

掃描速度                    12.5mm/s

測量分辨率                       32-bit@高達40MHz

壓電（ic-和ac-掃描探針技術）

振動范圍                          20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

最小振動分辨率                 0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展                    100μm

定位分辨率                       0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

機電

掃描前端                          500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元                    275×450×400mm(H×W×D)

功率 250W