LJD-B絕緣材料介電常數介質損耗試驗裝置

一、概述：

LJD-B絕緣材料介電常數介質損耗試驗裝置是我公司*研制生產的產品，自該產品實現銷售后，我公司工程師就一直持續不斷對產品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。

二、技術參數：

信號源頻率范圍： DDS數字合成 10KHz-70MHz

Q測量范圍： 1-1000自動/手動量程

信號源頻率覆蓋比： 6000:1

Q分辨率： 4位有效數,分辨率0.1

信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數

Q測量工作誤差： <5%

電感測量范圍： 15nH-8.4H,4位有效數,分辨率0.1nH

調諧電容： 主電容30-500PF

電感測量誤差： <5%

調諧電容誤差和分辨率：±1.5P或<1%

標準測量頻點： 全波段任意頻率下均可測試

Q合格預置范圍： 5-1000聲光提示

諧振點搜索： 自動掃描

Q量程切換： 自動/手動

諧振指針： LCD顯示

LCD顯示參數： F,L,C,Q,波段等

三、夾具工作特性

1.平板電容器：

片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選

片間距可調范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

四、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

隨機文件一套