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廣電計量檢測集團股份有限公司

半導體特性分析

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京美亞先科技有限公司
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  • 廠商性質其他
  • 更新時間2021/8/25 18:14:03
  • 訪問次數537
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  北京美亞先科技有限公司(Beijing Meiyaxian Technology Co. Ltd)簡稱美亞先科技,自從2009年成立之初就一直致力于將歐美和亞洲的*技術與產品擇優引入中國市場,通過學習、消化、吸收的工藝技術,嘗試、引進、共享這些高科技產品帶來的益處,并促其在廣袤的中國市場上扎根發芽、開花結果、發揚光大。為中國經濟的騰飛發達,出一份綿薄之力。故此,融合○共享○發揚成為北京美亞先科技有限公司成長壯大深層次的文化理念。  北京美亞先科技有限公司積極服務于科研教育、計量校準、車輛檢測、數據采集、顯微分析、工、工業控制與自動化等多個行業,產品線包括:● 探針臺系列用于半導體特性分析與設計測試等的各式探針臺及其配套產品,包括探針臺臺體、探針座、探針夾具/線纜、探針及顯微鏡、真空泵、視像采集、防震桌、屏蔽箱、溫度或磁場控制裝置等,細分品類有上百種之多。適合于晶圓測試,器件失效分析/可靠性分析,材料特性分析,光電器件與平板顯示器、射頻與微波器件、生物芯片、微納器件的物理化學特性測試以及半導體設計等多個領域。● 計量校準系列省地級或部門行業的計量校準/質量檢驗院所,國內的企業級的計量校準實驗室,從達國家標準級的產品到適合企業使用的常規計量儀器都有覆蓋。包括電容標準和電容電橋系列;電阻標準、精密分流器和高壓分壓器系列;用于高溫和光譜輻射標準的高溫黑體爐和LP4/LP5高溫計系列;還有十進制電阻箱/電容箱/電感箱,多功能校準器及電流、電壓、溫度、壓力等的現場校準儀器等。● 顯微分析系列除了可以提供金相顯微鏡、體視顯微鏡、ZOOM顯微鏡及視像采集CCD等配套產品外,還可提供包括用于三維(3D)形貌分析的激光共聚焦顯微鏡,適用于半導體晶元、微納米/MEMS器件、各種材料表面分析等領域;也可提供用于樣品材料化學成分分析、晶體結構、分子間相互作用、分子取向以及形貌特征等的便攜式拉曼光譜儀,適用于石墨烯、表面增強、食品藥品安全、寶玉石鑒定、生物物理化學材料分析等領域。● 可編程電源系列的精密、可編程電源及電子負載全系列產品線,廣泛應用于多個工業領域的研發、自動測試設備(ATE)、過程控制、電源總線模擬及電源調節方面。包括直流臺式電源、直流機架式電源、直流模塊化電源、交流電源、交流/直流電子負載,覆蓋AMETEK、ELGAR、AMREL、Sorensen、California Instruments和Xantrex等世界。● 車輛檢測系列用于汽車(包括電動汽車)及其他車輛的檢測,包括車門關閉速度與能量測試系統(Door Speed)、引擎NVH檢測系統、馬達NVH檢測系統、無線引擎轉速計、CAN總線分析測試系統等,高性能硬件+方便易用的軟件構成完整的解決方案。● 數據采集與工業控制系列數據采集與工業控制簡稱數采與工控系列,包括應力應變量測系統、振動與加速度量測系統、多功能數據采集器(FleXense)、以及用于電動汽車、自行車齒片耐久性、CVT和引擎的動力計/測功機系統等。● 其他測試與測量系列  ? 通用的測量儀表如數字源表、SMU源測量單元、示波器等;  ? 專業的半導體特性分析儀、IV/CV/PIV分析儀;  ? 極弱信號測量儀器如靜電計/高阻計/微電流pA計、納伏表、微歐姆計;  ? 極微小物理/化學變化測量工具,高靈敏度+準度的電容電橋;  ? LED/OLED/LD/PD及LED照明產品的光色電測量系統;  ? LED/LD的老化與可靠性測試系統;  ? 四探針測量系統;  ? 變形IV/微力測試系統;  ? 射頻/微波網絡分析儀;  ? 負載牽引Load Pull系統;  ? 低溫膨脹計;  ? 納米微定位器/微注射器;  ? 電生理實驗室使用的拉針儀;  美亞先科技持續追蹤新的科技領域、前沿學科的動向,引入的產品線仍在不斷優化和擴充中。既可以直接在網站中按照產品分類進行查找、也可按照代理品牌或者應用方案分類來查找,以便我們的廣大客戶可以快速便捷地找到所關注的產品、應用等有價值的信息。為了增強用戶的產品體驗,在充分利用電話、網絡溝通工具解答產品信息、應用咨詢的基礎上,對主要產品我們還可以免費提供試用服務。  美亞先科技已經與多家跨國公司建立了良好的合作關系,成為多個公司在中國大陸、香港澳門市場的代理或代理,包括中國臺灣奕葉(EverBeing)探針臺系列;美國安登?海格林(Andeen-Hagerling)的電容標準與電容橋系列;美國歐姆實驗室(Ohm-Labs)的電阻標準/分流器/分壓器系列;美國Thermo Gauge的高溫黑體爐和輻射率測量系列;英國時代電子(Time-Electronics)的電阻箱/電容箱/電感箱、多功能校準器及電流、電壓、溫度、壓力等的現場校準器系列;車輛檢測系列+數據采集與工業控制系列;韓國Nanoscope Systems的激光共聚焦顯微鏡系列+便攜式拉曼光譜儀系列;美國Sutter微操縱器/拉針儀系列;美國AMETEK可編程電源系列;美國Vektrex光電測試與老化系列;美國 GGB射頻微波(RF+MW)探針系列;美國Keysight/Agilent、Tektronix/Keithley、Tegam電子測量儀器系列等。  美亞先科技有限公司總部位于北京,在上海和廣州設有辦事處;在為廣大中國客戶帶來*的、性價比更高的產品的同時,更加積極地為客戶提供的服務,已經與多家公司合作建立了中國區技術支持與服務中心,解決相關的技術、應用、備品備件及維修等問題,我們為全部所售產品,提供完善的保修和售后服務,使您使用無后顧之憂。同時,基于多年的積累的經驗,也可為別的品牌提供維修與部件更換服務,包括但不限于 CASCADE、Micromanipulator、Signatone、儀準、展芯、鑫志尚/Semishare、Guildline等。  美亞先科技的技術人員,熱忱歡迎您通過網站、電子郵件、電話手機、微信、商橋等與我們聯系,促進并實現歐美和亞洲的*技術與中國市場的融合、共享與發揚的使命。
電子探針
4200-SCS半導體特性分析儀采用了模塊化、可配置、可升級的架構
半導體特性分析 產品信息
4200-SCS半導體特性分析儀采用了模塊化、可配置、可升級的架構。這使得它能夠準確滿足當前的測量需求,也可以模塊擴展以滿足后續的需求。它的工作原理為:
它可以支持多達9個精密直流源-測量單元能夠提供和測量0.1fA到1A的電流或者1μV-210V的電壓;
1、利用4210-CVU(C-V)模塊可以方便的在1KHz-10MHz測試頻率下進行交流阻抗測試。可以測量的電容范圍從aF級到μF級;
2、利用可選的4225-PMU超快I-V模塊可以進行脈沖和瞬態測量。
通過這些模塊的組合,來對多端口半導體器件的電學參數進行測試和分析。
    吉時利交互式測試環境(KITE)提供了一套完整的圖形用戶界面,無需編程即可支持幾乎所有類型的特性分析測試。它提供了多達456種標準的特性分析測試庫,包括MOSFET,BJT晶體管、二極管、電阻器、電容器、太陽能電池、碳納米管和NVM存儲器,例如Flash、PRAM,PCRAM等。
硬件測量指標
直流源測量單元指標 (SMU指標)
4200提供2種SMU單元選項:
1、4200-SMU(中功率) 電壓 210V,電流100mA,功率2.2W;
2、4210-SMU(高功率) 電壓210V,電流1A,功率22W
電流指標:(其中1A量程為4210-SMU指標,10nA-1pA量程需要外接4200-PA電流前置放大器單元)225-PMU脈沖測量單元介紹
    隨著納米技術的不斷發展,出現了新型材料(高K,SOI等),越來越小的器件尺寸和越來越快的工作速度,這些*的結合使得對納米結構的特性分析變得越來越富于挑戰性。傳統的DC I-V技術可能會導致器件的一些自熱效應,從而會影響器件的性能。為了減少自熱效應的影響,4200-SCS半導體特性分析儀提供了脈沖I-V測試的擴展能力,它可以與DC測試結合,從而能得出更為精準的測試結果。
    4200-SCS提供了4225-PMU快速脈沖測量單元,它集成了高速雙通道脈沖發生器和雙通道數字示波器,4225-PMU超快I-V模塊是4200-SCS半導體特性分析儀的的測量模塊選項。它把超快速的電壓波形產生和信號觀察能力集成在4200-SCS已經有的強大測試環境,提供了的I-V測試性能,極大地擴展了4200-SCS對材料,器件和工藝的特性分析能力。同樣重要的是,它使得超快的I-V源和測量過程和使用傳統高分辨率SMU單元進行DC測量的過程是一樣的簡單。
    每一個4225-PMU模塊提供了2個通道,每個通道都集成了源和測量能力,但只占用4200-SCS機箱中的一個插槽。和業界其解決方案的不同的是,4225-PMU的每個通道將高速電壓輸出(脈沖寬度從60ns至DC)和電流電壓參數的同步測量結合在一起。有了這樣的超高速電壓源,電壓和電流測量的組合能力,現有的4200-SCS系統可以很容易地升級到一個靈活的為超高速I-V測試廣泛應用的測量工具。每個4200-SCS機箱能夠容納4塊4225-PMU模塊,最多可以有8路超快源和測量通道。
主要應用領域:
1、超快的I-V測量;
2、脈沖I-V和瞬態I-V測量;
3、Flash,PCRAM,以及非揮發性存儲器測試;
4、中等尺寸功率器件的隔熱測試;
5、CMOS器件測試,比如高K電介質;
6、NBTI/PBTI可靠性測試。
主要技術指標:
1、系統脈沖發生器頻率:50MHz-1Hz;
2、系統最小脈沖發生器寬度:10ns@10V,50ns@40V;
3、脈沖I-V模式下,測量Id-Vg參數的最小脈寬為60ns@10V,140ns@40V;
4、脈沖電壓:80V P-P,-40V—40V;
5、電流:800mA;電流量程:100nA,1uA,10uA,100uA,1mA,10mA,200mA,800mA;
6、電流測量分辨率:10pA;
7、電流測量精度:0.5%+1nA;
8、可同時測量I和V,采樣率200M/s;
9、多個PMU模塊的同步時間<3ns;
測試庫支持:
的KTEI軟件包括了很多的標準超快I-V測試庫,包括對器件的隔熱脈沖I-V的特性分析,對MOSFET的電荷陷阱的瞬態效應得特性分析,以及電荷泵,電阻,二極管,電容,閃存和太陽電池的測試庫。測試庫還提供了例程,說明如何使用內置波形和任意波形發生器(ARB)的設定段,以及對可選的4225-RPM遠端放大器/開關的使用例程。
15168338725
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