X射線熒光光譜儀
儀器照片 | 
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儀器名稱 | X射線熒光光譜儀 |
儀器型號 | Panalytical Axios |
生產廠家 | 荷蘭 |
技術參數 | 分析范圍：O(8)-U(92)；含量范圍：PPM- SST-mAX無衰減X光管及固態高壓發生器功率：4KW，60KW，160mA DOPS直接光學定位測角儀精確率：0.0001o 晶體：LiF200；PX-1；PE002，Ge111；LiF220；掃描方式：順序掃描 探測器：流氣式：3000Kcps；閃爍式：1500 Kcps |
應用范圍 | 用于粉末，塊狀，粉末壓片，熔片，金屬非金屬樣品，空氣濾膜等樣品元素成分的定性定量分析以及無標樣半定量分析，無損分析。 |
主要功能 | X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子可曾出現相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子會躍遷到該低能量電子殼層來*相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性—特征波長(定性分析基礎)；依據譜線強度與元素含量的比例關系進行定量分析。 |
半定量分析 |  |
樣品要求 | 寄送樣品須干燥處理；固體：尺寸要求(mm) 長×寬：10×10 mm～200×200 mm 高：<100 mm；粉末：樣品均勻、粒度>200目，送樣質量大于1 g。 |
