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廣電計量檢測集團股份有限公司

激光衍射粒度分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱廈門淳涵科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/7/12 13:28:00
  • 訪問次數797
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廈門淳涵科技有限公司,多年來一直致力于設備狀態監測和故障診斷事業,已成為行業內的企業。公司具備研發、生產、銷售和培訓的綜合能力。在長期發展中,公司形成了完整的產品系列,不僅有機械類檢測儀器,還有電氣類檢測儀器;不僅有離線巡檢儀器,還有在線監控系統。公司追蹤的技術和設備管理維修理念,致力于為客戶提供*的產品,幫助客戶建立*的全廠設備狀態監測系統,提高設備資產的正常使用率,降低生產成本。公司奉行“真正的友誼體現在買賣之后”的服務理念,長期堅持以客戶為中心的服務原則,開通了24小時服務電話及在線交流等方式,及時回復客戶提出的問題。
化學吸附儀
產品詳情簡介激光粒度儀 HELOS/BR,測試區域可結合干法/濕法分散系統或樣品適配器,用于測試0.1微米到 875微米的粒度范圍 (使用HELOS/KR, HELOS-VARIO/KR可測試到8,750微米).
激光衍射粒度分析儀 產品信息
產品詳情簡介
激光粒度儀 HELOS/BR,測試區域可結合干法/濕法分散系統或樣品適配器,用于測試0.1微米到 875微米的粒度范圍 (使用HELOS/KR, HELOS-VARIO/KR可測試到8,750微米).

技術參數  尺寸.
HELOS,使用單一物理原理(在平行激光光束中的激光衍射)測試0.1-8750微米全范圍。儀器提供兩種計算模式:FREE:基于Fraunhofer衍射原理的無參數計算方案,MIEE:基于精確Mie理論的大量程擴展計算,可供選擇。量程鏡頭的組合在這兩種計算方法下都可應用,確保測試的寬范圍同時獲得的測試精度。
它是用于干樣和濕樣,也就是粉體、懸浮液、乳濁液和噴霧等粒度分析的經典儀器。是*符合ISO 13320"Particle size analysis - laser diffraction methods"(“粒度分析-激光衍射法”)規定,并且設計的精度相對于標準米高達±1%。
分辨率高,重復性好,結合高速的數據傳輸,網絡接口以及標準化的支持新帕泰克全系列儀器的WINDOX操作軟件,保證了更*的粒度解決方案。
HELOS分析系統與其模塊化的配置,通過結合適合的分散單元,用于不同性質的樣品分析。

HELOS特點

(Helium-Neon Laser Optical System)

HELOS代表具有相同高品質的激光粒度儀系列產品,該系列擁有以下幾個種類:

模塊1測試范圍應用
HELOS/BR0.1 - 875 微米實驗室/ at-line在線
 /KR0.1 - 8 750 微米實驗室/ at-line在線
VARIO/KR0.1 - 8 750 微米實驗室/ at-line在線
MYTOS20.25 - 3 500 微米on-line 在線/ at-line在線

Outstanding performance characteristics common to all HELOS sensors:

一個測試原理涵蓋整個從0.1微米到3500微米的測試范圍,632.8nm平行激光束,*符合ISO 13320.
相對于標準米,精度在±1%以內。
最多7個測量鏡頭,可通過軟件選定。每個鏡頭都是特殊設計的(傅里葉-)物鏡,具有的分辨率和測試精度。
模塊化的設計結構,根據實際應用,用不同的分散系統與主機組合分析粉體、懸浮液、乳濁液、氣溶膠與噴霧等。
精密半圓形(180°)多元探測器帶自動對焦準直,以獲得的衍射模型,尤其是非球形顆粒。
自動調節光束直徑以適應量程鏡頭,從而獲得的工作距離,這對例如擴散氣溶膠等的測試非常重要。
使用FREE (Fraunhofer Enhanced Evaluation)模式計算粒度分布:
Fraunhofer理論 (用于未知光學參數的測試),測試范圍為0.1至8 750微米
MIEE (Mie Extended Evaluation):
Mie理論 (用于球形的、各向同性的、均勻的并已知符合折射率的顆粒測試,供選擇),測試范圍為 0.1至8 750微米
量程鏡頭組合: 
2-7個量程鏡頭測試可整合為一個粒度分布結果 (供選擇).
WINDOX 5 軟件用于儀器的控制和粒度分析數據的計算:
一個軟件支持全部的off-line, at-line, on-line, in-line儀器的操作,
數據庫導向,多傳感器適用,應用于> 106 HELOS測試,
符合21 CFR rule 11
每秒收集2000次的粒度信息,可自定義采樣頻率
使用統計信息,提高反演算法
堅固的全金屬外殼以及整合的精密光學平臺,允許傳感器在任意方向上的操作,例如用于噴霧測試時顛倒應用,甚至垂直應用
測試鏡頭轉換快速
通信:
TCP-IP接口,與所有的傳感器組件和外部設備并行通信
通過內置的Web界面進行系統設置
通過aux-in/out和ZigBit™無線網絡進行特殊裝置的控制
 
除了粒徑大小之外,對顆粒真實形貌的監測和分析已經變得越重要。圖像分析技術正是為實現這一目的而誕生的。
對于顆粒大小和形貌的分析技術來說,存在以下幾個重要問題:

 1.圖像分析技術基于顆粒數的統計學規律。如果顆粒數很少,就會造成粒度分布中很大的誤差:nmin > 1/E?max 因此為了保證1%的標準偏差,顆粒數必須大于10,000。很多情況下測試結果是按照體積分布函數Q3(x)給出的。而根據后來出臺的ISO 14488 (2003),最少顆粒數對于粒度分布結果本身具有決定性的作用。通常為了保證小于1%的誤差,每次測量檢測的顆粒數必須大于1,000,000個。
 2.顆粒與顆粒之間必須互相分開。否則就必須使用非常耗時的計算方法通過軟件把團聚在一起的多個顆粒單獨識別出來。未經分散的顆粒會造成總測試顆粒數的減少并帶來更長的計算時間。
 3.整個測試時間必須被保持在可接受的范圍內。對于1,000,000個顆粒來說,如果每副圖像上有10個顆粒的話,那么就需要拍100,000 幀的圖像來完成測試。按照每秒鐘拍攝25副照片的常規速度,這樣的測試將消耗400秒,也就是一次測試時間超過一個小時。
 4.為了獲得顆粒的真實形貌必須在照片上可以清晰的分辨它的邊緣,這就要求所獲得的照片具有非常高的對比度和清晰度
 5.粒子在測試過程中必須保持取向的任意性,否則得出的粒度測試結果將會不準確。

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