日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150特點
1、切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定。
2、安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。
3、探測器轉換波長
檢測器切換時附近波長測定數據例（金納米棒的吸收光譜）
4、日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振。
UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。
5、平行光束可實現反射光和散射光的精確測定。
入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。
平行光束，會聚光束
6、采用全新人體工學設計。
改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。兼容多種U-4100附件。
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
比U-4100型更高的樣品通量。 在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。*5 UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。
系統產品線
積分球檢測系統：可使用各種60 mm積分球。選配件：150 mm積分球或角度連續可變反射附件（此處列出的是60 mm標準積分球）
直射光檢測系統：直射光檢測器內置于分光光度計內。提供其他選配檢測器替換直射光檢測器, 如各種積分球和角度連續可變反射附件。
日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150應用范例
微小樣品透過率測定
微小樣品透過率測定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測定
BD驅動用攝像鏡頭，CD驅動用攝像鏡頭
攝像鏡頭測定示例
微小樣品透過率測定（P/N 1J0-0204）
規格掩膜類型適合樣品尺寸3 mm 掩膜 （標配）5 - 20, 厚度等于或小于3 mm1 mm 掩膜 （選配）3 - 20, 厚度等于或小于3 mm* 更換光源掩膜必須要使用隨附4-mm光源掩膜。
漫反射率測定
可將樣品放在積分球后面（樣品側的入射角為0°）測定粉末等樣品的漫反射率。
*漫反射率測定示例
*漫反射率測定示例
60 mm標準積分球（全反射和漫反射）（P/N 1J1-0120）
規格入射角0°波長范圍240 - 2,600 nm
日立紫外可見近紅外分光光度計UH4150參數規格
項目積分球檢測系統直射光檢測系統檢測器 光電倍增管（UV-VIS） 和 冷卻型PbS檢測器（NIR）標準積分球（內涂層：BaSO4） 60 mm 標準積分球（4口）:反射樣品上的入射角：樣品側：8o, 參比側:0o 60 mm 標準積分球（4口）:反射樣品上的入射角：樣品側和參比側：10o 60 mm 標準全積分球（2口）高靈敏度積分球（內涂層：Spectralon®） 60 mm 高靈敏度積分球（4口）:反射樣品上的入射角:樣品側：8o, 參比側:0o 60 mm 高靈敏度全積分球（2口）直射光檢測器設置波長范圍175 - 3,300 nm單色器棱鏡-光柵，雙單色器，預單色器：使用棱鏡的Littrow單色器，主單色器：使用衍射光柵的Czerny-Turner單色器（2個可切換的衍射光柵）數據處理單元PC操作系統：Windows® 7 專業版（32位或64位）操作環境溫度15 - 35C°操作環境濕度25 - 80%（不結露，溫度大于或等于30°時要小于或等于70%）外觀尺寸，重量900（寬）×760（深）×1,180（高） mm， 160 kg
*1:以 U-4000型和U-4100型合計，數據截止到2012年10月
*2:積分球檢測系統
購買校準和性能檢查用分光光度計時，必須包括任一個上述60 mm積分球。 *3:直射光檢測系統
分光光度計內置的直射光檢測器用于校準和性能檢查。如需更換分光光度計內置的檢測器，請購買任一個上述積分球檢測器。
*4:某些附件不通用。更換檢測器相關附件時，必須進行調整或更換電纜。
*5:請根據樣品特性和測定目的設定適當的測定參數，包括掃描速度。
